x-ray膜厚測試儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板,x-ray膜厚測試儀采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,采用的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強(qiáng)大的電腦功能來進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算,在加強(qiáng)的軟件功能之下,簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下,一樣精準(zhǔn)測量。
x-ray膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分,只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
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