日本理學(xué)Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV為您提供所需的分辨率,一維高速探測(cè)器、6位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)、氣密樣品臺(tái)等,實(shí)時(shí)角度校正功能,大幅提高角度精度、強(qiáng)度等基本性能,得到高精度測(cè)試數(shù)據(jù),可以選配單色器,用于扣除熒光X射線背底,提高信噪比進(jìn)行高質(zhì)量數(shù)據(jù)測(cè)試。
在X射線開(kāi)啟狀態(tài)下無(wú)法打開(kāi)樣品室操作窗。在測(cè)試中如果指令樣品室解鎖,則快門(mén)關(guān)閉同時(shí)停止X射線,應(yīng)用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業(yè)原材料品質(zhì)管理、大學(xué)、科研等等,入射和發(fā)散狹縫可選。
技術(shù)參數(shù)
1、多用途薄膜測(cè)試組件;
2、X射線衍射-差示掃描量熱儀同時(shí)測(cè)量裝置 XRD-DSC;
3、分析軟件包括:XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等;
4、X射線發(fā)生器功率為3KW;
5、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀;
6、測(cè)角儀小步進(jìn)為1/10000度;
7、In-Plane測(cè)試組件;
8、高速探測(cè)器D/teX-Ultra;
9、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror);
10、小角散射測(cè)試組件;
11、微區(qū)測(cè)試組件;
12、測(cè)角儀配程序式可變狹縫;
13、高反射效率的石墨單色器;
14、測(cè)角儀半徑:185mm,285mm(選購(gòu)),280mm(TTR);
15、X射線防護(hù)罩:帶故障保險(xiǎn)機(jī)構(gòu)的開(kāi)閉式防護(hù)罩;
16、X射線發(fā)生器:3kW。
主要特點(diǎn):
1、高速X-射線檢測(cè)器,檢測(cè)器的速度和強(qiáng)度大幅提高;
2、全新的軟件設(shè)計(jì)理念,豐富的內(nèi)容, 簡(jiǎn)明流暢;
3、光路系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整校準(zhǔn):配備X-射線光路自動(dòng)調(diào)整校準(zhǔn)模式;
4、豐富的功能附件保障了儀器升級(jí)的可能;
5、水平測(cè)角儀:特別適合粉末類(lèi)樣品,尤其是易于產(chǎn)生取向效應(yīng)的樣品;
6、全自動(dòng)狹縫調(diào)整裝置;
7、*的光學(xué)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)交叉光路和平行光路的自動(dòng)程序互換。
日本理學(xué)Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯(lián)鎖裝置,X射線衍射儀器的旗艦產(chǎn)品,聚焦法光學(xué)系統(tǒng)和平行光束法光學(xué)系統(tǒng)可 輕松切換,不需要重新設(shè)置,水平測(cè)角儀,操作方便,可自由 組合各種附件,適合多種樣品的各種測(cè)試,可以進(jìn)行材料的物相鑒定及定量分析以及研究材料原子尺度結(jié)構(gòu)*、起決定性作用的設(shè)備,應(yīng)力、織構(gòu)、取向度和結(jié)晶度的測(cè)定;薄膜物相及物性分析等。