日立分析OE750光電直讀光譜儀是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中zui低的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在zui低ppm范圍內(nèi)。在過去，這一級別的OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型日立分析OE750光電直讀光譜儀可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和全面質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE750?

1. 值得信賴的結(jié)果 在同類產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學(xué)分辨 率zui高。

2. L綜合成本低 負擔(dān)得起的購買和運行成本，提供更貴分析儀 器所具備的性能。

3. 保持運行不間斷 設(shè)計可靠，維護和標準化要求極低。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動時間短，可快速反饋熔液質(zhì) 量。

只需一臺價格合理的OE750設(shè)備，就能提供快速全面的金屬質(zhì)量分析，滿足您所有的需求

日立分析儀器專注于高科技分析解決方案，幫助數(shù)以千計的企業(yè)降低成本，降低風(fēng)險，提高生產(chǎn)效率。我們實驗室級和強大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析，在整個生產(chǎn)周期中增加價值，包括從原材料勘探到來料檢驗、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。