CMS2臺式測厚儀
COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。
CMS2臺式測厚儀特性：
· 使用準確性高的電解退鍍技術(shù)（庫侖法），精確地測量多鍍層的厚度
· 圖形顯示的交互方式，易于操作
· 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度
· 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求
應(yīng)用：
· 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
· 單層或多層的鍍層厚度測量
· 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量
· 適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量
蘇州優(yōu)儀惠測儀器有限公司經(jīng)過長年的實踐積累，廣泛的廠家合作，具備了一支在材料分析儀器領(lǐng)域從業(yè)多年的專家隊伍，能為客戶提供售前咨詢、設(shè)計選型、安裝調(diào)試、售后保障等一站式服務(wù)。主要服務(wù)產(chǎn)品有：手持式光譜儀、火花直讀光譜儀、材料拉伸試驗機、沖擊試驗機，試驗機，三坐標，金相顯微鏡等產(chǎn)品。
蘇州優(yōu)儀惠測儀器有限公司秉著“好儀器，實惠的價格”的公司理念，為廣大客戶提供高性價比的儀器服務(wù)方案，并在各行業(yè)客戶有著廣泛深入的合作和良好的服務(wù)口碑。
