主要特點
- 采用遠方高精度光譜測量技術,精度高、測量速度快、穩(wěn)定性好
- 采用背照式高精度陣列探測器和衍射光柵,并采用帶通色輪校正(BWCT)等多項雜散光修正磚利技術,具有*的光譜測量分辨率、機低雜散光
- 高性能準直光源,保證寬波段范圍的測量條件
- 自帶校正及標定功能,方便用戶自行校零和定標
- *的紫外-可見波段的雙光路設計,可對光源進行監(jiān)控和自動補償,減少光源變化帶來的誤差
- 極寬的光譜測量范圍:280nm-2500nm
主要技術指標
測量功能 | 可見光透射比、紫外線透射比、太陽光透射比、可見光反射比,及材料的光譜透射率曲線、材料的光譜反射率曲線、材料的色空間、色差等顏色參數(shù)。 |
波長范圍 | 280nm-2500nm; |
波長準確度 | 280-800nm波段:±0.3nm; 800-1600波段:±0.5nm; 1600-2550波段:±3nm; |
半峰帶寬 | 280-800nm波段:3nm; 800-1600波段:9nm; 1600-2500波段:15nm; |
照明/接收條件 | 反射 5°/5°,透射:0/0 |
反射率范圍 | 0-200%,分辨率0.001% |
照明孔徑 | Φ20mm |