日本densoku便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列
日本densoku便攜式薄膜測(cè)厚儀QNIx系列
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度,而無(wú)需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無(wú)線測(cè)量無(wú)需電纜。除了有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)外,它還有助于防止測(cè)量過(guò)程中跌落事故的發(fā)生。
QNIx系列的功能
無(wú)需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量
通過(guò)在出廠時(shí)輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來(lái)交付。這樣就無(wú)需進(jìn)行麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作,并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測(cè)量。
膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在常規(guī)的測(cè)量?jī)x器中,通過(guò)用電纜連接儀器主體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來(lái)傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用,只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。可以更快,更輕松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。
超輕量無(wú)線測(cè)量?jī)x
探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無(wú)線傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣,它也降低了被電纜卡住,阻礙和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外,該探頭重30克,重量超輕,因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。
難以斷裂且在被測(cè)物體上*跡的探頭
QNIx系列探頭由增強(qiáng)塑料包圍,可將耐用性提高30%。即使發(fā)生故障,也很容易拆卸和維修,從而縮短了維修時(shí)間。此外,還附有紅寶石筆尖,因此可以安全地執(zhí)行測(cè)量而不會(huì)損壞要測(cè)量的物體(樣品)。
QNIx系列比較規(guī)格表
QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | 方便的QNIx | |
可測(cè)量的電影 | [F]鐵材料上的非磁性涂層 [N]非鐵材料上的非導(dǎo)電涂層 [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性,非導(dǎo)電膜厚度 | ||
材料識(shí)別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 用戶(hù)的轉(zhuǎn)換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別交換 | 鐵/有色,自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換 |
測(cè)量原理 | [F]磁通量(霍爾效應(yīng)) [N]渦流 | ||||
測(cè)量范圍 | 0至2,000μm (可選:5,000μm) | 0-3,000微米 | 0至2,000μm (可選:5,000μm) | 0-5,000微米 | 0-500微米 |
解析度 | 0.1μm,1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米,1微米 | 5微米 |
配置格式 | 0點(diǎn)校正 用戶(hù)校準(zhǔn):1 [M] 100件 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒(méi)有校準(zhǔn)功能 | 沒(méi)有校準(zhǔn)功能 |
準(zhǔn)確性 | ±(1微米+ 2%) ±3.5% (2毫米或更多) [T] ± (0.3微米+ 2%) | ±(2微米+ 3%) | ±(1微米+ 3%) | ±(1微米+ 2%) ±3.5% (2毫米或更多) | ±(10微米+ 5%) |
測(cè)量速度 | 1,500ms (約40次/分鐘) [T] 920ms (約65次/分鐘) [R] 1,600ms (約37次/分鐘) | 600ms (約70次/分鐘) | 1,300ms (約46次/分鐘) | 1,500ms (約40次/分鐘) | 600ms (約100次/分鐘) |
便攜式薄膜測(cè)厚儀型號(hào)代碼指南
[F]鐵金屬材料上非磁性膜厚度的測(cè)量
[N]有色金屬材料上非導(dǎo)電膜厚度的測(cè)量
[FN]用一個(gè)探針測(cè)量黑色金屬和有色金屬上的薄膜厚度
[T]微型探針
[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C