1、平面平晶采用無(wú)色光學(xué)玻璃制作，K9材質(zhì)或石英材質(zhì)，性能穩(wěn)定； 2、平晶產(chǎn)品的平面度精度指標(biāo)，符合國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程JJG28-2000； 3、用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測(cè)量面工作面的平面度； 4、用于檢定高精度的平面零件，如：平面光學(xué)零件，高級(jí)平臺(tái)，平板，導(dǎo)軌； 5、平面光帶檢測(cè)儀適用機(jī)械密封件檢測(cè)，適用于企業(yè)計(jì)量單位，檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室 6、是計(jì)量單位、機(jī)械密封件、質(zhì)檢單位、光學(xué)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室常用標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量器具。
1、平面平晶適用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測(cè)量面工作面的平面度
2、1級(jí)平晶用于檢定高精度的平面零件，如：平面光學(xué)零件，高級(jí)平臺(tái)，平板，導(dǎo)軌
3、平面光帶檢測(cè)儀用于檢測(cè)機(jī)械密封件的平面度，檢測(cè)機(jī)械密封環(huán)，密封件行業(yè)有著廣泛應(yīng)用。
1、平面光帶檢測(cè)儀是由平面平晶和鈉光燈箱組成的一套平面度檢測(cè)儀，又叫平面光帶檢測(cè)儀，其中采用的1級(jí)平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測(cè)量面與工件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學(xué)零件，高級(jí)平臺(tái)，平板，導(dǎo)軌，機(jī)械密封件，密封環(huán)等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位，檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面基準(zhǔn)。
2、符合標(biāo)準(zhǔn)：JJG28-2000
二、主要技術(shù)規(guī)格：
1、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格尺寸： 單位：mm
型號(hào) | YZPD-80G | YZPD-100G | YZPD-150G | YZPD-200G |
直徑 | Φ80 | Φ100 | Φ150 | Φ200 |
厚度約 | 20mm | 25mm | 30mm | 40mm |
2、非標(biāo)定制規(guī)格尺寸： 單位：mm
型號(hào) | YZPD-250G | YZPD-300G | YZPD-350G | YZPD-400G |
直徑 | Φ250 | Φ300 | Φ350 | Φ400 |
厚度約 | 40mm | 40mm | 45mm | 45mm |
3、精度：按JJG_28-2000標(biāo)準(zhǔn)；
1） 平晶精度：1級(jí)
a.直徑 30mm~60mm 0.03μm
b.直徑 80mm~150mm 0.05μm
c.直徑 200mm~250mm 0.08~0.2μm
d.直徑 300mm~600mm 0.1~0.5μm
3） 平行度誤差：Ⅰ級(jí) 0.6μm
4）平晶的材料：A級(jí) K9光學(xué)玻璃
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) （GB 903 無(wú)色光學(xué)玻璃）
5） 平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內(nèi)進(jìn)行等溫，等溫時(shí)間不少于8小時(shí)；
4、備注：簡(jiǎn)易操作說(shuō)明
1、 采用220V/50或60HZ專(zhuān)用鈉光燈源照射。
2、 選用一級(jí)平面平晶。
1） 將工件需檢測(cè)的平面放置在平面平晶表面上（中心位置）
2） 調(diào)整玻璃鏡的角度，工件平面會(huì)通過(guò)平面平晶鈉光燈源照射反映在玻璃鏡
上，將玻璃鏡上所顯示的光帶紋路對(duì)照光譜圖示參照?qǐng)D，找出相似或接近的圖示，即可檢測(cè)出該工件的平面度，如顯示紋路圖案不清楚，可以輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)工件，然后與標(biāo)準(zhǔn)圖譜進(jìn)行對(duì)照。
