博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀G系列產(chǎn)品概述:
G系的一款機(jī)型。該機(jī)型機(jī)構(gòu)緊湊,沒有可移動(dòng)部件。與博曼其他系列不同,該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個(gè)清晰的測(cè)試窗口上,并使用相機(jī)對(duì)圖像進(jìn)行定位。G系列的樣品倉較小,可手動(dòng)調(diào)整樣品位置測(cè)量樣品,該系列主要應(yīng)用于珠寶和其他貴金屬行業(yè)的鍍層分析與應(yīng)用。
G系列標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)固定準(zhǔn)直器,一個(gè)固定焦距的相機(jī),固態(tài)PIN探測(cè)器和質(zhì)量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號(hào)一樣,該型號(hào)也可升級(jí)為包括多個(gè)準(zhǔn)直器,可變焦點(diǎn)相機(jī)和SDD探測(cè)器。
博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀G系列
可滿足以下類型用戶的需求:
- 樣品測(cè)試量相對(duì)較小
- 客戶或供應(yīng)商對(duì)于鍍層提出了新要求
- 主要分析珠寶或其他貴金屬
- 預(yù)留擺放空間小
- 預(yù)算有限
博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀G系列產(chǎn)品參數(shù):
類別 | 參數(shù) |
元素測(cè)量范圍: X射線管: 探測(cè)器: 分析層數(shù)及元素?cái)?shù): 濾波器/準(zhǔn)直器: 焦距: 數(shù)字脈沖器: 計(jì)算機(jī):
相機(jī): 電源: 重量: 馬達(dá)控制/可編程XY平臺(tái): 延伸可編程XY平臺(tái): 樣品倉尺寸: 外形尺寸: | 13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素 50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測(cè)器 5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/雙規(guī)格準(zhǔn)直器 激光單定焦距 4096 多通道數(shù)字處理器,自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz 25kg 不可用 不可用 高度:125mm(5"),寬度:380mm(15"),深度:300mm(12") 高度:400mm(16"),寬度:400mm(16"),深度:380mm(15") |
關(guān)于美國(guó)博曼:
美國(guó)博曼(Bowman)是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商,擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)和*的軟件系統(tǒng),可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí),博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金(HEAs)。