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Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱凱戈納斯儀器商貿(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(Near Fiel
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/8/22 15:38:48
  • 訪問次數(shù)3288
產品標簽:

光學顯微鏡

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凱戈納斯儀器商貿(上海)有限公司"的前身為"瑞典凱戈納斯有限公司上海代表處,是由瑞典Hot Disk有限公司注資成立的。公司開發(fā)、制造并銷售瑞典Hotdisk品牌熱常數(shù)分析儀等世界的*分析儀器,同時是多家*儀器供應商在中國區(qū)的代理商,這包括日本Advance Riko公司的紅外金面反射爐和ZEM系列塞貝克系數(shù)電阻測量系統(tǒng),加拿大Thermtest公司的熱流計和法導熱系數(shù)儀,日本Ai-Phase公司的薄膜熱擴散系數(shù)測試儀,日本AGUS公司的SPS放電等離子燒結爐及退火爐,以色列Nanonics公司的原子力顯微鏡AFM/掃描探針顯微鏡SPM以及原子力拉曼光譜電鏡AFM+Raman+SEM/SPM聯(lián)用系統(tǒng),中國臺灣佐信公司的MRIX顯微拉曼光譜儀,瑞典SERSTECH公司的手持型拉曼光譜儀等。 競爭力 母公司HOTDISK在范圍內擁有眾多系統(tǒng)用戶,并在英國、美國、德國、日本等二十個國家和地區(qū)設立了分支機構。 瑞典Hot Disk公司主要開發(fā)、制造并銷售基于瞬變平面熱源技術(TPS)的熱導率、熱擴散率和比熱容的測試儀器;日本Advance Riko公司利用的技術優(yōu)勢開發(fā)了市場的紅外金面反射爐和ZEM系列塞貝克系數(shù)電阻測試系統(tǒng);日本Ai-Phase公司*研發(fā)了紅外熱波技術直接測量薄膜材料垂直方向熱擴散系數(shù)的測試儀,彌補了現(xiàn)有市場對于薄膜材料熱擴散系數(shù)研究的空白;日本AGUS公司通過多年為代工的豐富經驗推出了自研發(fā)的高性價比SPS放電等離子燒結爐; 以色列NANONICS IMAGING LTD.是業(yè)界將近場光學顯微鏡(NSOM)技術和原子力顯微鏡(AFM)相技術相結合的*,NANONICS憑借著實力和品質,其產品涉足的領域從科研到工業(yè),從生物學到半導體,從化學制品到無線電通訊,應用范圍極其廣泛。公司新近推出了材料表征連用技術,包括Nanonics系列電鏡(AFM、SPM)與拉曼光譜儀和掃描電鏡SEM的組合一體機,多探針近場光學掃描顯微鏡,具有很高的性價比和競爭力;中國臺灣佐信公司自研發(fā)了兼具臺式顯微鏡拉曼和便攜式拉曼光譜優(yōu)勢的MRIX系列顯微拉曼光譜儀,利用直射式激光照明模塊克服了便攜式拉曼光譜光路易偏離難調節(jié)的缺點,利用模塊話的光路設計克服了臺式顯微鏡無法輕易移動的缺點;瑞典SERSTECH公司研發(fā)的手持型拉曼光譜儀將復雜的顯微拉曼技術簡易化,在無需樣品復雜處理并且不會破壞樣品的前提下完成數(shù)秒鐘內任何化學物質的鑒識,廣泛的應用于,藥品,麻醉藥品,危險化學品等測試領域,提成本效益的拉曼測試方案。 技術保障&售后服務 凱戈納斯儀器商貿(上海)有限公司的銷售工程師兼具安裝調試和售后服務的能力,確保您在設備前期調研即可獲取專業(yè)的技術方案,并提供在設備后期使用時的一條龍技術服務。位于上海虹口區(qū)的辦公司配備了Hotdisk公司的TPS3500型號熱常數(shù)分析儀及中國臺灣佐信公司的MRIX顯微拉曼光譜儀樣機,隨時提供客戶免費的調研檢測服務,期待您的咨詢及合作!
分析儀、光譜儀
Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結合使用,因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關的信息。近場掃描光學顯微鏡通常可以獲得以下信息: * 反射率的改變 * 透過率的改變 * 折射率、極化、樣品材料的改變 * 材料局部應力的改變引起光學性質改變 * 材
Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM) 產品信息
詳情介紹:

Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)技術參數(shù)

1 近場掃描光學顯微鏡(NSOM)操作模式: 透射模式,反射模式,收集模式,照明模式

2 原子力顯微鏡(AFM)操作模式: 敲擊模式,接觸模式(選配),所有探針或樣品掃描的AFM操作模式

3 微分干涉對比(DIC) : 反射和透射

4 折射率成像(Refractive-Index Profiling): 反射和透射

5 在線遠場共聚焦(和拉曼及熒光光譜成像): 反射和透射,針對選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強拉曼散射

6 熱傳導及擴展電阻成像:接觸模式,敲擊模式,音叉反饋模式(無反饋激光引入干擾信號,選配);熱探針可作為納米加熱器使用,納米熱分析、納米相轉變等應用


******************************SPM掃描頭規(guī)格**************************
1 樣品掃描器:壓電材料制薄片掃描器 (3D Flat Scanner™);厚度為7毫米

2 SPM掃描范圍: 樣品掃描,*大100 microns (XYZ)

3 掃描分辨率: < 0.005 nm (Z)
< 0.015 nm (XY)
< 0.002 nm (XY) 低電壓模式

4 粗調定位范圍:6毫米

5 反饋機制:懸臂梁光束反彈反饋,音叉反饋(選配)

6 樣品尺寸:標準配置下,直徑*大*16毫米;正置顯微鏡下使用,直徑*大*34毫米 特殊樣品形狀:如豎直樣品進行邊緣成像等

7 探針:各種針尖外露的玻璃探針,各種常規(guī)懸臂梁硅探針均可使用


*******************************成像分辨率****************************
1 遠場: 受光衍射幾何限制

2 光學: 500納米

3 共聚焦: 200納米

4 近場掃描光學: 100納米,條件下可達到50納米(由探針孔徑決定)

5 形貌: Z向噪聲0.05納米 rms;XY橫向分辨率:由針尖直徑和樣品的卷積決定

6 熱成像: 100納米起,溫度靈敏度0.01?C,300 ?C或更高(由樣品決定)

7 電阻成像: 25納米


主要特點

1、支持探針+樣品掃描,這對于波導材料&光子結構的收集模式NSOM和拉曼增強都有極大的幫助;

2、擁有*棒的反射模式NSOM,*的硬件設計確保系統(tǒng)進行反射模式實驗時擁有與透射模式一樣的收集效率(而一般來說在相同的實驗條件下,反射模式效率比透射模式低三個量級);

3、可以使用所有種類的NSOM探針,包括我們*的懸臂梁玻璃探針、直光纖探針、帶孔洞的懸臂硅探針、SERS探針、化學傳感Sol-gel探針等…;

4、我們磚利的玻璃探針種類很多,包括NSOM探針、AFM探針、深溝探針、中空AFM探針、拉曼增強探針、離子敏感探針、玻璃絕緣納米金屬絲探針、納米電極、納米鑷子、熱探針(納米加熱)等等…;

5、可以進行非接觸NSOM實驗(采用帶孔洞的懸臂硅探針無法做到);

6、針對液體生物材料NSOM成像擁有更強的信號(信號強三個量級);

7、XYZ向大范圍的掃描尤其是100微米深的Z向掃描范圍,對于大尺寸納米粒子、粗糙的表面SPM實驗及共聚焦集成都是必須的;

8、*的深溝探針及Flat scan™掃描器可用于帶深溝的MEMs和半導體器件掃描;

9、*佳的熱傳導模式成像,支持接觸模式、非接觸模式熱成像,100納米分辨率起;

10、采用磚利的FPNTM技術,進**態(tài)或液態(tài)材料(蛋白質、氯氣等類似材料)納米加工;

11、的雙探針SPM&NSOM系統(tǒng);

12、可與微拉曼光譜、SEM、FIB、光學顯微鏡實時在線聯(lián)用;

13、可以升級進行條件下的NSOM或AFM工作……


儀器介紹  

近場掃描光學顯微鏡(NSOM)也習慣稱為掃描近場光學顯微鏡(SNOM),是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結合使用,因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關的信息。近場掃描光學顯微鏡通??梢垣@得以下信息: 

* 反射率的改變
* 透過率的改變
* 折射率、極化、樣品材料的改變
* 材料局部應力的改變引起光學性質改變
* 材料磁的性質改變引起光學性質改變
* 分子熒光
* 拉曼遷移、SHG或其他效應引起的分子激勵


**********************近場掃描光學顯微鏡的基本構造********************
      進行NSOM實驗,必須將點光源靠到樣品表面納米距離,然后點光源掃描樣品表面,再收集探測經過樣品表面的光學信號。我們使用經金屬涂層處理的帶孔洞椎形光纖作為NSOM探針。光經耦合進入探針,從亞光波長孔徑的探針**發(fā)出,NSOM的分辨率就是由孔徑的大小決定(*優(yōu)可以達到50納米)。點光源和樣品表面的距離通常通過正常的力反饋機制(與AFM相同)控制,因此可以進行接觸、敲擊和非接觸模式的NSOM實驗。針對不同的材料和實驗,通常有四種NSOM操作模式: 

* 透射模式成像——樣品經過探針照明,光通過樣品并與樣品相互作用后被收集探測;
* 反射模式成像——樣品經過探針照明,光從樣品表面反射并被收集探測;
* 收集模式成像——樣品經遠場光源照明(從上或下面均可),探針將光信號從樣品表面收集;
* 照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光;

      收集的光可通過多種探測器探測,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探測器、CCD或通過光譜儀探測,通過探測器得到的信號經過數(shù)據(jù)處理得到樣品材料的NSOM圖像。

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