XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松線陣背照式CCD, 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態(tài)范圍??梢詮V泛應(yīng)用在理化分析、生物樣品、半導(dǎo)體材料檢測,光學(xué)檢測和材料檢測等領(lǐng)域。 XV400在0-40度,光譜波長偏移< 0.1nm,具備良好熱穩(wěn)定性,能夠應(yīng)用于定性、定量檢測場景。
特點列表
◆ 響應(yīng)強度大:在檢測物質(zhì)時光譜響應(yīng)強度大;
◆ 分辨率高:分辨率<1.0nm@600um 光纖;
◆ 良好的熱穩(wěn)定性:光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%。
規(guī)格說明
產(chǎn)品參數(shù) | |
項目 | 值 |
尺寸 | 95×71×41mm |
重量: | ~350g |
探測器 | 濱松線陣背照式CCD |
波動范圍 | 180-430nm |
像素 | 2048 *64 有效像元 |
光譜分辨率 | <1 nm |
信噪比 | 450:1 |
A/D 采樣 | 16bit |
暗噪聲 | 55 RMS |
動態(tài)范圍 | 1200:1 |
積分時間 | 4ms-40 second |
連接器 | USB |