MicroTEQ-B1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，具備透反射測(cè)量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測(cè)量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對(duì)顯微鏡的不同需求。
成像照片
下圖為使用10X物鏡對(duì)50um小孔進(jìn)行透射率測(cè)量時(shí)的聚焦和實(shí)測(cè)畫面。
實(shí)測(cè)圖譜
系統(tǒng)參數(shù)
型號(hào) | MicroTEQ-B1 |
光譜儀 | 可根據(jù)情況自行選配 |
顯微反射測(cè)量模塊 | 兼容大部分主流顯微鏡 |
尺寸 | 220x172x68 mm |
重量 | 2.8 kg |
支持波段 | 400-700 nm |
反射照明zui大支持相機(jī)尺寸 | 1/2” |
測(cè)量光斑 |
|
|
