芯片老化測試箱用于對封裝好的電路進行可靠性測試(Reliability T e s t ) , 它的主要目的是為了檢出早期失效的器件,稱為Infant Mortality。并進行失效機理分析,以便找出失效原因。
產(chǎn)品特點
針對MEMORY、LOGIC、ASIC等產(chǎn)品的可靠性測試需求而設(shè)計; 針對各大晶圓廠、芯片設(shè)計公司實驗室少量多樣化,空間小的特殊需求,采用 獨立的BY BOARD TG設(shè)計,每個SLOT都可單獨使用,以提高效率; 專有的FLASH MEMORY(NAND、NOR、SPI),DDR MEMORY指令讓程序開發(fā)更加快速高效;
DC POWER 采用高精度、高穩(wěn)定性的可編程直流電源;
DUT POWER 采用三級供應(yīng)方式,以達到的穩(wěn)定性和可靠性; 便捷的WINDOWS平臺、USB通訊、具有*的系統(tǒng)兼容性;
技術(shù)參數(shù)