| 儀器名稱： | 二次離子飛行時間質譜儀（TOF-SIMS） | 型號： | 德國IONTOF TOF.SIMS 5 |
| 檢測項目： | （1）深度分辨率：幾個納米；（2）空間分辨率：<一個微米；（3）質量分辨率：m/m5000（4）檢測靈敏度：ppmppb；（5）絕緣層厚度為幾個微米的樣品質譜分析 | ||
| 應用范圍： | （1）樣品組分和雜質元素縱向分布的深度剖析；（2）樣品組分和雜質元素面分布的一維線掃描分析；（3）樣品組分和雜質元素面分布的離子圖象；（4）多層薄膜樣品組分和雜質元素分布及界面情況分析；（5）厚度為幾個微米絕緣層樣品的深度剖析 | ||
| 制樣要求： | 粉末樣品50mg即可，塊狀樣品長寬1cm以內，厚度5mm以內。 如果樣品比較容易氧化或者吸水請?zhí)崆奥?lián)系客服，需要真空封裝好提前預約時間測試。樣品在超高真空下必須穩(wěn)定，無腐蝕性。建議樣品用干凈玻璃瓶盛裝或鋁箔紙包裝。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。
測試提示：
1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷，測試后會對樣品產生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加和技術人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品，一經發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。
