HPS2526精密方塊電阻測試儀可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻(每平方厘米電阻量值)的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻表征,由于方阻與鍍層厚度成反比,也就可以由方阻計算出鍍層厚度。 儀器配有結(jié)構(gòu)設(shè)計的四探針探頭和面測夾具,使得測試時壓力恒定,接觸可靠,可更詳細(xì)地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。
HPS2526精密方塊電阻測試儀性能特點(diǎn)
v 超大液晶人性化操作界面
v 點(diǎn)測和面測雙模式兼容
v 測量數(shù)據(jù)自動保持功能
v 超快測量并顯示讀數(shù)
v zui高10檔量程,手動和自動模式
v 檔號顯示及檔計數(shù)功能
v 兼容各種不同材料,系數(shù)任意設(shè)定
v 完備的通訊接口可以與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠(yuǎn)程控制
應(yīng)用
l 塑料薄膜
l 金屬鍍層
l 金屬化薄膜電容器