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薄膜測厚儀ST2000-DLXn

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱成都市晶盛達(dá)科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/3/3 9:19:05
訪問次數(shù)537

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公司介紹主營產(chǎn)品

成都市晶盛達(dá)科技有限公司，是一家專門致力于化驗(yàn)室的建設(shè)和成套化驗(yàn)室儀器配備的專業(yè)公司，以生產(chǎn)銷售實(shí)驗(yàn)臺(tái)、實(shí)驗(yàn)室家具、實(shí)驗(yàn)室通風(fēng)系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備、化學(xué)試劑、玻璃器皿、塑膠耗材為主。本公司代理了各大進(jìn)口和國產(chǎn)品牌的儀器設(shè)備和玻璃耗材，可以滿足客戶不同層次的需求。公司不僅為客戶提供實(shí)驗(yàn)室整體建設(shè)方案，還可以為客戶引進(jìn)*的檢測技術(shù)手段和采購成套的實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備。公司以“誠信經(jīng)營，客戶至上，產(chǎn)品，專業(yè)服務(wù)”為宗旨，將售前服務(wù)、產(chǎn)品質(zhì)量、設(shè)備安裝調(diào)試以及售后服務(wù)連成一個(gè)有機(jī)的整體，為客戶提供質(zhì)優(yōu)價(jià)廉的服務(wù)，為您省時(shí)、省心。我們將充分發(fā)揮自身優(yōu)勢，根據(jù)市場變化和客戶需求，不斷推出新產(chǎn)品，滿足客戶需要。以優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、優(yōu)惠的價(jià)格、優(yōu)良的服務(wù)、在平等互利的基礎(chǔ)上更好地服務(wù)于新老客戶。我們的經(jīng)營宗旨：誠信經(jīng)營、客戶至上、產(chǎn)品、專業(yè)服務(wù)！我們的自身優(yōu)勢：無比的商業(yè)誠信、豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn) 優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品質(zhì)量、滿意的售后服務(wù)！我們的目標(biāo)：打造好的化玻儀器行業(yè)品牌！

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實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

儀器簡介：SpectraThick,K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng)，采用的是光學(xué)技術(shù)方法

薄膜測厚儀ST2000-DLXn 產(chǎn)品信息

薄膜測厚儀ST2000-DLXn

儀器簡介：

Spectra Thick, K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng)，采用的是光學(xué)技術(shù)方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之間的干涉現(xiàn)象或是利用光的相位差來決定薄膜的性質(zhì)。這樣我們不但可以測量薄膜厚度還可測量光學(xué)常數(shù)。如果是透明薄膜且可維持光的干涉性，用ST系列可測量任何樣品。通過數(shù)學(xué)計(jì)算多層薄膜的每個(gè)層的厚度都可測量。由于采用的是用戶友好界面，操作十分簡單。樣品不會(huì)受到損害，并可快速測量從Å到數(shù)十㎛的大范圍厚度。

技術(shù)參數(shù)：

測量方法：非接觸式
測量原理：反射計(jì)
類型：手動(dòng)的
平臺(tái)尺寸： 4" （可選6" ）
活動(dòng)范圍：150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離)
測量范圍：200Å~ 35㎛(根據(jù)膜的類型)
光斑尺寸：20㎛典型值（可選10㎛、50㎛）
測量速度：1~2 sec./site
物鏡轉(zhuǎn)換器：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明類型：12V 35W Tungsten-Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
尺寸：190 x 265 x 316 mm
重量：12Kg
探頭類型：三目探頭
可供選擇：標(biāo)準(zhǔn)樣品(K-MAC or KRISS or NIST)

應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體：Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe...
介質(zhì)材料：SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,...
平板行業(yè)：(包括 LCD, PDP, OLED, ): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, AlQ3 , ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide...
光學(xué)涂層：硬度涂層、增反射薄膜、Color Filters、封裝與功能薄膜...
太陽能電池： Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..)
聚合物：PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR...
Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk
其他：示波管上的光阻薄膜材料與掩膜板、金屬薄膜、激光鏡...　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

主要特點(diǎn)：

測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個(gè)影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達(dá)3層
可背面反射

產(chǎn)品規(guī)格

貨號(hào)	型號(hào)	名稱	規(guī)格	價(jià)格	備注	購買
	ST2000-DLXn	薄膜測厚儀	活動(dòng)范圍：150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離)	登陸查看	可供選擇：標(biāo)準(zhǔn)樣品(K-MAC or KRISS or NIST)
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