NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)
針對大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測量數(shù)據(jù),測試過程迅速高效
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力,實(shí)現(xiàn)更快的測量時間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?;诎坠飧缮娴脑?,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀(CMM)和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像,進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),NPFLEXTM是個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng),而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
- 創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測零件(樣品)更大、形狀更多
- 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位
高效的三維表面信息測量
- 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
- 更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
- 干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個測量象素點(diǎn)上的亞納米級別垂直分辨率
- 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提供保障
測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效
- 最少的樣品準(zhǔn)備時間和測量準(zhǔn)備時間
- 比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)
為客戶量身訂做最合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上,還有很多備選的配件和配置方案,滿足不同客戶的測量需求:? 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位,測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復(fù)性好。? 獲得研發(fā)大獎的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結(jié)合環(huán)境測試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對樣品進(jìn)行加熱或者冷卻,進(jìn)行原位測量。? 可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣,但是要獲得這些品性質(zhì),需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天,汽車,醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測工具進(jìn)行表征,獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個測量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果,更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù),保證測試迅速高效NPFLEX三維測量系統(tǒng),能夠靈活高效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設(shè)置時間,操作者可以快速更換樣品,而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下,對樣品的不同表面進(jìn)行測量。僅需要不到15秒的時間,就可以出色地完成一個測量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作。自動對焦,光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能,大大節(jié)約了測試分析時間,而且可以根據(jù)操作者的實(shí)驗(yàn)需求,量身定做化的實(shí)驗(yàn)方案,而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測量結(jié)果,提供一站式的測量解決方案。