SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定。SZ-100的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據(jù)樣品的物理性質,動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據(jù)pH值或其他化學參數(shù)的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。
- 將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身
- 寬檢測范圍,寬濃度范圍
- 雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)
- 多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
- 用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
- 自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定