EDXRF技術(shù)適用于廣泛的元素分析應(yīng)用

能量色散X射線熒光（EDXRF）是一種常規(guī)的分析技術(shù)，廣泛用于各種樣品類型中主要元素及微量元素的半定量和精確定量分析。其廣泛的適用性源于：快速、準確、無損的多元素分析；元素分析范圍涵蓋從鈉（Na）至鈾（U）；含量分析范圍從低的PPM級到高的百分含量（wt%）。

日本理學NEX CG功能多樣，可以實現(xiàn)各種類型樣品的常規(guī)分析。從均勻、低粘性的液態(tài)樣品，到固態(tài)、金屬、泥漿、粉末和膠狀樣品。特別適用于對成分未知的樣品進行半定量分析。NEX CG強大的分析能力，靈活、方便的使用性，使其在科研、工業(yè)及現(xiàn)場監(jiān)測領(lǐng)域有著廣泛的需求。

EZ分析界面使日常分析更為簡單

日本理學NEX CG分析軟件的開發(fā)，基于強大的功能性和方便的使用性。特別適合非技術(shù)背景的操作人員。

RPF-SQX軟件減少對標樣的需求

理學NEX CG配置*的RPF-SQX分析軟件。采用理學峰形擬合技術(shù)(RPF)，對各類樣品在無需標樣的情況下實現(xiàn)半定量分析，在有標樣的情況下實現(xiàn)全定量分析。結(jié)合理學的散射FP方法，分析軟件可以自動估算無法測量的輕元素（H-F）的含量并做出適當?shù)男拚?

采用二次靶激發(fā)方式，偏振光使分析靈敏度獲得改善

與傳統(tǒng)的EDXRF分析儀不同，理學NEX CG采用二級靶激發(fā)方式，取代了傳統(tǒng)的直接激發(fā)。通過設(shè)計的解析式光學結(jié)構(gòu)，所產(chǎn)生的X射線偏振光，使接收信號的耦合度大大增強，從而極大地提高了信噪比，使分析靈敏度獲得改善。理學NEX CG采用二次靶激發(fā)，使背景噪聲顯著降低，同時增強了元素的譜線峰值的高度。其結(jié)果使光譜儀分析能力增強，不僅能夠分析常規(guī)的痕量元素，甚至對較難分析的樣品類型也能從容應(yīng)對。理學NEX CG有多達5個偏振二級靶可供選擇，可分析的元素涵蓋鈉（Na）至鈾（U），并且均具有上佳的靈敏度。

硅漂移檢測器使分析精度更為出眾

硅漂移檢測器（SDD）是目前較*的能譜信號接受器件，具有較高的計數(shù)率和的分辨率。這些特性，使NEX CG能夠在盡可能短的測試時間里得到高精度的分析結(jié)果。 （SDD檢測器工作原理簡圖：同心圓結(jié)構(gòu)，使其對X射線具有非常高的計數(shù)速率）