系統(tǒng)概述
根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求,可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等,對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。
系統(tǒng)特點
避免高溫對硅光電測試影響的設(shè)計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃,并且隨著溫度的改變,硅光電二極管光電流轉(zhuǎn)換效率,以及暗態(tài)電流都會改變,直接造成相對 亮度測量不準確。即使是耐高低溫環(huán)境的硅光電二極管,但在長期的高低溫環(huán)境下工作,也會極大縮短其使用壽命。 為避免硅光電二極管的溫度影響因素,同時保證使用壽命,將硅光電放置在室溫環(huán)境的測試機柜內(nèi)部,通過光纖把高溫老化試驗箱內(nèi) 的器件發(fā)光傳導(dǎo)過來,進行測量。
標準恒溫恒濕箱參數(shù)
溫度范圍: -40~100 ℃ (標準型,其它溫度范圍可訂制)
溫度均勻度:±2.0℃
溫度波動度: ± 0.5℃
溫度精度:1 ℃
升溫速度: 1.0~3.0℃/min
降溫速率: 0.7~1.2℃/min
濕度范圍:30%~98%RH (標準型,其它濕度范圍可訂制)
濕度波動度:±1.5%R.H
濕度偏差:±2.5%R.H
軟件功能
(1) 測量模式:恒壓、恒流、恒亮模式
(2) 測量數(shù)據(jù):測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預(yù)估壽命、亮度衰減比、溫度
(3) 測量圖表:衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
(4) 測量時間:三個時間段設(shè)計,每個時間段可以分別設(shè)置測量時間間隔等參數(shù)
(5) 發(fā)光點測量的獨立性:每個發(fā)光點可以獨立設(shè)置電壓或電流等參數(shù),共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
(6) 光學(xué)壽命測量時,每個發(fā)光點可以獨立開始和停止測量,每個發(fā)光點均可設(shè)置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產(chǎn)品
(7) 圖表實時查詢:支持圖表在測量過程中實時查詢,不必等待測量結(jié)束后再看數(shù)據(jù)和圖表
(8) 曲線圖:支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數(shù)據(jù),在圖表里顯示曲線。
(9) 測量前預(yù)處理功能:可以設(shè)定的需要預(yù)處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數(shù),正常測量前先以預(yù)處理條件進行老化,然后再進 入正常壽命測試程序。
(10) 數(shù)據(jù)實時存儲,異?;謴?fù)后可找回數(shù)據(jù)并繼續(xù)測試(中斷的時間不累積,能自動減除)
(11) Datalog及Eventlog實時記錄
軟件界面
根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求,可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等,對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。
系統(tǒng)特點
避免高溫對硅光電測試影響的設(shè)計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃,并且隨著溫度的改變,硅光電二極管光電流轉(zhuǎn)換效率,以及暗態(tài)電流都會改變,直接造成相對 亮度測量不準確。即使是耐高低溫環(huán)境的硅光電二極管,但在長期的高低溫環(huán)境下工作,也會極大縮短其使用壽命。 為避免硅光電二極管的溫度影響因素,同時保證使用壽命,將硅光電放置在室溫環(huán)境的測試機柜內(nèi)部,通過光纖把高溫老化試驗箱內(nèi) 的器件發(fā)光傳導(dǎo)過來,進行測量。
標準恒溫恒濕箱參數(shù)
溫度范圍: -40~100 ℃ (標準型,其它溫度范圍可訂制)
溫度均勻度:±2.0℃
溫度波動度: ± 0.5℃
溫度精度:1 ℃
升溫速度: 1.0~3.0℃/min
降溫速率: 0.7~1.2℃/min
濕度范圍:30%~98%RH (標準型,其它濕度范圍可訂制)
濕度波動度:±1.5%R.H
濕度偏差:±2.5%R.H
軟件功能
(1) 測量模式:恒壓、恒流、恒亮模式
(2) 測量數(shù)據(jù):測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預(yù)估壽命、亮度衰減比、溫度
(3) 測量圖表:衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
(4) 測量時間:三個時間段設(shè)計,每個時間段可以分別設(shè)置測量時間間隔等參數(shù)
(5) 發(fā)光點測量的獨立性:每個發(fā)光點可以獨立設(shè)置電壓或電流等參數(shù),共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
(6) 光學(xué)壽命測量時,每個發(fā)光點可以獨立開始和停止測量,每個發(fā)光點均可設(shè)置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產(chǎn)品
(7) 圖表實時查詢:支持圖表在測量過程中實時查詢,不必等待測量結(jié)束后再看數(shù)據(jù)和圖表
(8) 曲線圖:支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數(shù)據(jù),在圖表里顯示曲線。
(9) 測量前預(yù)處理功能:可以設(shè)定的需要預(yù)處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數(shù),正常測量前先以預(yù)處理條件進行老化,然后再進 入正常壽命測試程序。
(10) 數(shù)據(jù)實時存儲,異?;謴?fù)后可找回數(shù)據(jù)并繼續(xù)測試(中斷的時間不累積,能自動減除)
(11) Datalog及Eventlog實時記錄
軟件界面