性能指標(biāo)

X射線光源 Cu靶，陶瓷X光管，電壓≤40kV，電流≤40mA 樣品臺(tái) 樣品臺(tái)水平固定，適合測(cè)試松散固體、塊狀固體、薄膜等 測(cè)角儀 精度高，角度重現(xiàn)性達(dá)±0.0001o，最小步長(zhǎng)為0.0001o，可θ，2θ單獨(dú)驅(qū)動(dòng)，工作模式為θ/θ模式，步進(jìn)馬達(dá) + 光學(xué)編碼器確保測(cè)角儀快速而準(zhǔn)確定位 探測(cè)器 新型Lynxeye-XE半導(dǎo)體探測(cè)器，具有靈敏度高，信號(hào)強(qiáng)高的特點(diǎn)

主要應(yīng)用

樣品的物相分析（定性分析） 晶粒尺寸測(cè)定、分析納米粒度大小及粒徑分布 物相定量分析 薄膜物相鑒定，薄膜高溫分析 測(cè)量纖維或高分子樣品的物相、取向度等 織構(gòu)分析 應(yīng)力分析

樣品要求 

粉末樣品要求：干燥、在空氣中穩(wěn)定，粒度均勻，粒徑1-50μm（大尺寸塊體需研磨后過250目篩），粉末樣品量約需1g。 塊狀樣品要求：測(cè)試面清潔平整，也可是板狀、片狀，帶襯底材料的薄膜或帶基材的鍍層等原始形狀，厚度≤5mm，直徑≤2cm。 特殊樣品：極少量的粉末、非晶條帶樣品等。微量粉末樣品需要顆粒均勻細(xì)小，且物質(zhì)性質(zhì)穩(wěn)定，對(duì)Si無腐蝕性。條帶需要平整光滑且不能太厚。 告知測(cè)試的起始角度，2θ角掃描范圍須在5°～120°之間 若樣品中含有Fe、Co、Ni等熒光物質(zhì)，請(qǐng)告知 送樣人需盡量提供樣品中所含的元素種類 易變質(zhì)樣品需提前與儀器操作人員聯(lián)系，預(yù)約測(cè)試時(shí)間 劇毒樣品需特別注明 請(qǐng)注明樣品保存條件，如常規(guī)、冷凍、干燥、冷藏、避光等。

儀器說明

D8 DaVinci型X射線粉末衍射儀樣品臺(tái)水平固定，適合測(cè)試松散固體、塊狀固體、薄膜樣品等。配置有高、低溫（-180~450度）附件、薄膜附件、PLynxeye探測(cè)器、強(qiáng)大的智能化多用途軟件平臺(tái)。主要應(yīng)用于混合物相的定性分析；樣品的對(duì)照分析；晶體物相的定量分析；晶體材料微結(jié)構(gòu)的表征（晶胞參數(shù)的精密測(cè)定，晶粒大小，微應(yīng)力等）；薄膜材料的研究；掠入射小角X衍射；結(jié)晶度分析等。 該儀器已對(duì)交大材料學(xué)院、化工學(xué)院、生命學(xué)院、藥學(xué)院、環(huán)境學(xué)院等各學(xué)院及多家校外企事業(yè)單位提供了測(cè)試服務(wù)。該儀器在材料的物相分析上為校內(nèi)外客戶提供了很好的服務(wù)并取得了豐碩的成果。每年發(fā)表包括該儀器為表征手段的文章百余篇。