高低溫交變?cè)囼?yàn)機(jī) 高低溫環(huán)境測(cè)試箱 高低溫箱 恒溫恒濕機(jī):測(cè)試產(chǎn)品在高低溫反復(fù)測(cè)試后的各項(xiàng)產(chǎn)品性能和指標(biāo)
品牌:SUNGOLL/尚高檢測(cè)
型號(hào):SG-GDW系列
可非標(biāo)定制(這種環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備)
符合溫濕度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測(cè)試條件,搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng),適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性,特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況 也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力 |
符合標(biāo)準(zhǔn) |
1、GB10592-2008 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化) 2、GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn) 3、GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn) /電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-78:2001) 試驗(yàn) Cab:恒定試驗(yàn) 5. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-30:2005) 試驗(yàn) Db:交變?cè)囼?yàn)方 6. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC60068-2-4) 試驗(yàn) Cb:交變濕熱試驗(yàn)方 7. GB/電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:(IEC68-2-14) 試驗(yàn) N:溫度變化 8. 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)第3部分:高溫試驗(yàn)方 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)第3部分:低溫試驗(yàn)方 24977-2010 /T |
高低溫環(huán)境測(cè)試箱 高低溫箱 恒溫恒濕機(jī)
主要技術(shù)參數(shù) | ||
產(chǎn)品型號(hào) | 工作室 W×D×H(mm) | 外型W×D×H(mm) |
SGGDWJ-50 | 350×320×450 | 820×850×1560 |
SGGDWJ-100 | 450×450×500 | 900×950×1610 |
SGGDWJ-150 | 500×500×600 | 950×1000×1710 |
SGGDWJ-225 | 520×630×750 | 1050×1050×1860 |
SGGDWJ-250 | 600×600×700 | 1100×1100×1900 |
SGGDWJ-400 | 600×800×850 | 1120×1300×1980 |
SGGDWJ-500 | 700×800×900 | 1250×1500×2010 |
SGGDWJ-800 | 800×1000×1000 | 1350×1500×2150 |
SGGDWJ-010 | 1000×1000×1000 | 1520×1500×2150 |
溫度范圍: 0~160℃ - 20~160℃ -40~160℃ -50~160℃ -60~160℃ -70~160℃ -80~160℃ 可按照要求選定 | ||
注:可以根據(jù)客戶要求,定制非標(biāo)尺寸 |
接觸角測(cè)量?jī)x,插拔力試驗(yàn)機(jī),拉壓力試驗(yàn)機(jī),拉力強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),剝離力強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),抗壓試驗(yàn)機(jī),材料拉伸試驗(yàn)機(jī),扭力試驗(yàn)機(jī),按壓回彈力試驗(yàn)機(jī),轉(zhuǎn)軸試驗(yàn)機(jī),曲繞試驗(yàn)機(jī),跌落試驗(yàn)機(jī),壽命測(cè)試機(jī),恒溫恒濕箱,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,紫外、氙燈、臭氧、淋雨、沙塵老化試驗(yàn)箱,水滴角測(cè)量?jī)x,接觸角測(cè)試儀,二次元影響測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等