主要特性：

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Windows 5.0操作系統(tǒng)

開機后不需校準(zhǔn)就可直接測量

采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測器

分析元素最小從Mg開始，達40多種。

分析范圍：ppm級至50以上

實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示

XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣

測量無損，不受樣品形狀限制

儀器自動校準(zhǔn)，自動存儲測量數(shù)據(jù)，無需人工干預(yù)

主機一體化設(shè)計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊

可選擇一鍵式定時測量

內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計算和顯示速度快

儀器適應(yīng)高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境

在開機狀態(tài)下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護儀器

X射線管耐用性強，采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命

選配GPS定位系統(tǒng)，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖

FP模式，大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。

野外操作時，自由攜帶，非常方便