德國BYK公司4570小口徑微型光澤儀XS
小部件用小口徑光澤儀
當(dāng)今,很多產(chǎn)品不僅是由不同的部件構(gòu)成,同時(shí)要求這些部件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設(shè)計(jì)已成為產(chǎn)品能否成功的重要因素,諸如手機(jī)、電腦或者家用電器。需要將小部件整合到大部件中并融為一體,例如框架、按鍵以及裝飾性的零部件。這些產(chǎn)品的大小和設(shè)計(jì)使它們很難用傳統(tǒng)的光澤儀進(jìn)行評估。
微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀,測量口徑2 x 4 mm,是測量小部件光澤的理想方案,確保使之與大部件相統(tǒng)一。額外新增的版本是增強(qiáng)型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術(shù)性能適用于測量非常低光澤表面的產(chǎn)品。
測量范圍1 0 - - 2000 GU
重復(fù)性2 ± GU ± %
重現(xiàn)性2 ± GU ± %
光譜敏感度 用于CIE-C光源的觀察器,符合CIE1931標(biāo)準(zhǔn)
測量時(shí)間 秒 / 角度
存儲(chǔ) 999個(gè)讀數(shù)帶日期和時(shí)間