ARL QUANT′ X 能量色散 X射線熒光光譜儀有如下分析技術(shù)優(yōu)勢:
1、快速分析氟(F)到鈾(U)之間的元素;
2、元素分析濃度范圍從<1ppm到100%;
3、多元素同時測量時間10-60秒;
4、可選多種進(jìn)樣器;
5、使用CCD相機進(jìn)行樣品成像;
6、可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm,以便適應(yīng)不同樣品大小;
7、高性能電制冷硅漂移探測器(SDD);
8、多功能XRF應(yīng)用軟件;
9、薄膜厚度測量與鍍層分析;
10、UniQuant技術(shù),無標(biāo)樣多元素同時分析技術(shù);
11、多語言支持;
12、優(yōu)異的機械耐久性,可保證長時間運行;
13、可選TRACEcom,能夠輕松與LIMS交互;
14、設(shè)計緊湊,可以輕松移動;
15、低噪音、得益于智能溫控風(fēng)扇;
16、全面的自定義和現(xiàn)場應(yīng)用方法建立功能;
17、易于安裝,更易于維護(hù)。
與上一代產(chǎn)品相比,新型ARL QUANT′ X 能量色散 X射線熒光光譜儀結(jié)合了改進(jìn)的電子器件、全新的探測器、增強的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu),從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素,除了需要提升靈敏度之外,光譜純度也同樣重要。ARL QUANT'X 經(jīng)過精心設(shè)計,可消除探測器電子器件、分析室、光學(xué)器件和 X 射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。