儀器照片 |
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儀器名稱 | X射線衍射儀 |
儀器型號 | SmartLab 3KW |
生產(chǎn)廠家 | 日本理學 |
儀器簡介 | 高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，一維陣列探測器可以提高強度150倍，不僅提高設備的使用效率， 而且提高了設備的探測靈敏度。 |
技術參數(shù) | 測量精度：±0.0001°； 測角儀半徑≥200 mm； 步長大于0.0001°； 角度范圍（2θ）：-110～168°； 輸出：小于3 KW； 穩(wěn)定性：±0.01%； 管電壓：20～60 kV(1kV/1step)； 管電流：10～60 mA。 |
儀器功能 | X射線衍射儀可以對樣品進行物相定性和部分樣品的定量分析，可以測定精確的晶胞參數(shù)、簡單晶體的晶體結(jié)構(gòu)、樣品的結(jié)晶度、微晶的粒度。利用相應附件可以測定納米粒度、薄膜厚度；可以進行斑點等小區(qū)域樣品進行分析； |
在線測試系統(tǒng) |
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物相分析檢測案例 |
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樣品要求 | 粉末：樣品須干燥處理，粒度小于300目，質(zhì)量不少于0.1g； 塊體: 需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×20mm×2mm。 |
