設(shè)備介紹
X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng),可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。不需要重新設(shè)置,適合多種樣品的各種測試。
儀器型號
日本理學(xué) UltimaIV
技術(shù)參數(shù)
- 光路系統(tǒng)CBO交叉光路
- X-射線光管Cu靶
- X-射線發(fā)生器輸出功率3000W
- 測角儀水平測角儀,最小步進為1/10000度
- 旋轉(zhuǎn)光管在線焦斑和點焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進行免對準(zhǔn)切換
案例展示
應(yīng)用范圍
X射線衍射儀是適合測試粉末樣品、塊狀固體等,主要應(yīng)用于混合物相的定性分析;樣品的對照分析;晶體物相的半定量分析;材料晶體結(jié)構(gòu)的表征分析;結(jié)晶度分析等,面向化學(xué)、藥物、材料、農(nóng)林、化工、環(huán)境、生化、礦物、地質(zhì)、冶金、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。