服務(wù)范圍
光電熱機(jī)械全參數(shù)測(cè)試 光電器件:半導(dǎo)體分立器件、LED、阻容感等無(wú)源電子元件
檢測(cè)項(xiàng)目
(1)光:可?光的光通量(模塊、燈珠)、光強(qiáng)(燈珠)、主波長(zhǎng)、色坐標(biāo)、輻射通量、顯指、可視角等。
(2)電:二、三極管等各類(lèi) I-V 參數(shù)、I-V 曲線(xiàn)、各類(lèi)動(dòng)態(tài)參數(shù),如開(kāi)通關(guān)斷時(shí)間、上升下降時(shí)間、導(dǎo)通關(guān)斷延遲時(shí)間、開(kāi)通關(guān)斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺(tái)電壓、反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù)充電電量、反向恢復(fù)電流、反向恢復(fù)損耗、反向恢復(fù)電流變化率、反向恢復(fù)電壓變化率、集電極短路電流、輸入電容、輸出電容、反向轉(zhuǎn)移電容、柵極串聯(lián)等效電阻。
(3)熱:結(jié)溫、穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熱阻、結(jié)構(gòu)函數(shù)、老化試驗(yàn)分析、封裝缺陷診斷。
(4)機(jī)械:端子強(qiáng)度、板彎曲(bending)、機(jī)械尺寸。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
光電熱機(jī)械全參數(shù)測(cè)試 光電器件:產(chǎn)品的光、電、熱、機(jī)械等物理性能是產(chǎn)品使用性能等級(jí)劃分的重要指標(biāo)。由于測(cè)試設(shè)備之間存在測(cè)試誤差,在同一對(duì)照下進(jìn)行測(cè)量和對(duì)比才能對(duì)產(chǎn)品性能作出公正合理的評(píng)估。另一方面,制造商一般只會(huì)采購(gòu)某個(gè)方面向的物理性能測(cè)試設(shè)備,難以對(duì)產(chǎn)品的光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)進(jìn)行評(píng)估。
我們的優(yōu)勢(shì)
廣電計(jì)量具有德國(guó)IS光譜儀(積分球)、Mentor T3ster熱阻測(cè)試儀、是德B1505及B1506大功率圖?儀、IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀等設(shè)備,覆蓋光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測(cè)試,為客?提供全?的參數(shù)驗(yàn)證和對(duì)比服務(wù)。
廣電計(jì)量可與企業(yè)合作,深入產(chǎn)品研發(fā)階段,有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測(cè)試保障。