X熒光光譜儀(真空型)配置真空測試系統(tǒng)以及SDD(硅漂移)探測器,元素測試范圍廣、檢出限低、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性好。
廣泛應(yīng)用于電子、電器、塑膠塑料、五金、玩具、包裝印刷以及產(chǎn)品等公司內(nèi)部進行質(zhì)量把控。
適用于ROHS檢測、鹵素測試、玩具重金屬檢測和合金元素分析等各領(lǐng)域使用。
探測器 | 美國Amptek SDD探測器,高速脈沖分析系統(tǒng) |
高壓電源 | 美國Spellman (50kv/MA) |
X射線管 | 新型X光管 |
能量分辨率 | 140±5ev |
元素分析范圍 | 鈉(Na)到鈾(U) |
分析含量 | 1ppm到99.99% |
測量時間 | 60—300s |
交流220v供電設(shè)備 | 1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源 |
工作溫度 | 10-30°C |
測量條件 | 大氣環(huán)境 |
應(yīng)用領(lǐng)域
合金(如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金)所含元素含量分析(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素)。
不銹鋼元素含量分析
銅合金元素含量分析
鋁合金元素含量分析