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涂層板材多層測厚儀

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱北京時代山峰科技有限公司
品牌
型號CMXDL/DL+
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/9/21 7:41:43
訪問次數(shù)135

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產(chǎn)品簡介在線詢價

涂層板材多層測厚儀多種測量方式：模式一：僅測量基體厚度模式二：僅測量涂層厚度模式三：同時測量基體和涂層的厚度美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，涂層板材多層測厚儀（基體和涂層）測厚儀可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得*佳的性價比。

涂層板材多層測厚儀產(chǎn)品信息

CMX系列超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀

多種測量方式：

模式一：僅測量基體厚度

模式二：僅測量涂層厚度

模式三：同時測量基體和涂層的厚度

美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得*佳的性價比。

CMX
除了常規(guī)的超聲波測厚儀的功能外，增加了B-掃描功能和多種測量模式，包括：
- 脈沖-回波(P-E)模式，測量材料厚度
- 脈沖-回波涂層(PECT)模式，同時測量材料厚度和涂層厚度
- 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式，測量材料厚度
- 回波-回波(E-E)模式，穿過涂層測量材料厚度
- 回波-回波驗證(E-EV)模式，穿過涂層測量材料厚度
- 測量涂層(CT)模式，只測量涂層厚度
CMXDL
在CMX的超聲波測厚儀基礎(chǔ)上，增加了存儲功能。

CMXDL+
在CMXDL超聲波測厚儀的基礎(chǔ)上，增加了A掃描功能，多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭)，另有彩色屏幕主機(jī)可選。
詳細(xì)資料

技術(shù)參數(shù)

	測量
	脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層) 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層) 分辨率：0.01mm 聲速范圍：309.88～18542m/s 單位：公制或英制校準(zhǔn)：一點和兩點校準(zhǔn)方式

	顯示
	顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光 B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10到200個讀數(shù) 大數(shù)字方式：標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm 厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示模式中可見穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性功能狀態(tài)指示：顯示當(dāng)前激活的功能

	超聲波參數(shù)
	測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器接收：根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制計時：單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精準(zhǔn)TCXO計時脈沖重復(fù)頻率：250Hz

	探頭
	頻率范圍：1~10MHz 雙晶探頭 LEMO接口，1.2米探頭線可定制用于特殊應(yīng)用的探頭

	存儲(僅CMXDL)
	容量：內(nèi)置4GB SD卡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別) 屏幕捕獲：位圖圖形捕獲，用于快速記錄數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機(jī)

	其他
	鍵盤：12個觸摸鍵電源：標(biāo)配為三節(jié)5號堿性電池，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機(jī)。USB Type-C供電外殼：擠壓鋁機(jī)殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝工作溫度：-10～60℃ 尺寸：63.5x165x31.5mm 重量：含電池385g 包裝：ABS工程塑料箱出廠證書：工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)

常用探頭

型號	頻率	探頭晶片直徑	探頭防磨面直徑	測量范圍	說明
PT-102-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)高阻抗探頭
PT-101-2700	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑高阻抗探頭
PT-101-2000	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑探頭
PT-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	超薄探頭
PT-104-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高阻抗探頭
PT-104-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚探頭
PT-042-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭，*高340℃
PT-044-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫探頭，*高340℃
PT-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	超高溫探頭，*高480℃
PT-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚超高溫探頭，*高480℃

注：	測試高溫表面時需用高溫耦合劑在穿透模式下，高阻抗探頭會有更好的表現(xiàn) 表中的測量范圍為脈沖-回波模式測量范圍