leeb253型大量程涂鍍層測厚儀符合以下標準:
GB/T4956─1985磁性方法;
JJG818-95《磁阻法測厚儀》;
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀。
leeb253型大量程涂鍍層測厚儀功能與特點
采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性;
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等);
可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl);
具有米、英制轉換功能;
具有欠壓指示功能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯誤提示功能;
具有自動關機功能。
leeb253型大量程涂鍍層測厚儀技術參數(shù)
測頭類型:F;
測量原理:磁感應;
測量范圍:0-6000um;
低限分辨力:1μm(10um以下為0.1um);
探頭連接方式:一體化;
leeb253型大量程涂鍍層測厚儀示值誤差:
一點校準(um):±[3%H+1];
兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1];
測量條件:
***小曲率半徑(mm):凸1.5|凹9;
基體***小面積的直徑(mm):ф7;
***小臨界厚度(mm):0.5;
溫濕度:0~40℃|20%RH~90%RH;
工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl);
測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
上下限設置:無;
關機方式:自動;
電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池;
外形尺寸:150×55.5×23mm;
重量:150g。
leeb253型大量程涂鍍層測厚儀標準配置
leeb253主機;
鐵基體;
標準片一套;
充電器;
使用說明書;
合格證書;
包裝箱。
leeb253型大量程涂鍍層測厚儀可選配
鐵基體;
標準片。