M1—Mistrial X-射線熒光鍍層測(cè)厚儀
Mistrial系列是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng),用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。
Mistrial可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定(如珠寶鑒定)等行業(yè),完成單層或多層厚度測(cè)量。
主要特點(diǎn)包括:;
?成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
?可完成至多12層鍍層(另加底材)和25個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試,
?的多元素辨識(shí),廣泛覆蓋元素表上從鈦(原子序數(shù)22號(hào))到鈾(92號(hào))各元素
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光(EDXRF)技術(shù), Mistrial可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求:
?符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:金屬鍍層——X射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
?符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度,包括金屬和部分非金屬鍍層
?至多同時(shí)分析25種元素
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