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便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀（PIDcheck）

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/4/2 17:32:59
訪問(wèn)次數(shù)111

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來(lái)，憑借與世界分析儀器廠商的戰(zhàn)略合作，迅速成長(zhǎng)為科學(xué)儀器行業(yè)受尊敬的供應(yīng)商。束蘊(yùn)儀器擁有一支積極樂(lè)觀，正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來(lái)高品質(zhì)的生活，為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備。如高校、科研院所、政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。束蘊(yùn)儀器倡導(dǎo)熱情主動(dòng)、正直誠(chéng)信、健康快樂(lè)的生活方式，并努力使這里的每一個(gè)員工做秀的自己。束蘊(yùn)儀器，讓世界更清晰！主營(yíng)儀器設(shè)備： -高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT -- 布魯克Bruker分銷商 -X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、紅外光譜儀-布魯克Bruker分銷商 -同位素質(zhì)譜儀--德國(guó)元素（Elementar)代理商 -元素分析儀、TOC總有機(jī)碳分析儀--德國(guó)元素（Elementar)代理商 -杜馬斯定氮分析儀--德國(guó)元素（Elementar)*代理商 -BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理 -提供實(shí)驗(yàn)室分析儀器解決方案

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

顯微CT、X射線斷層掃描、Micro CT、TOC總有機(jī)碳分析儀、穩(wěn)定同位素、杜馬斯定氮儀、元素分析儀、布魯克代理商、德國(guó)元素代理、艾力蒙塔代理、上海顯微CT

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無(wú)需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)Fraunhofer CSP Halle合作開(kāi)發(fā)的。

便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀（PIDcheck）產(chǎn)品信息

PIDcheck的好處和特點(diǎn)

安裝后或采購(gòu)光伏電站前的質(zhì)量檢查

PIDcheck是能夠發(fā)現(xiàn)已安裝的光伏組件是否對(duì)PID敏感的工具。

功率和產(chǎn)量預(yù)測(cè)

如果PID已經(jīng)發(fā)生，只有PIDcheck的測(cè)量結(jié)果可以提供未來(lái)產(chǎn)量的預(yù)測(cè)。

評(píng)估針對(duì)PID的對(duì)策

PIDcheck設(shè)備能夠模擬恢復(fù)設(shè)備（偏移箱、浮動(dòng)控制器）的應(yīng)用，因此有助于在其安裝前評(píng)估恢復(fù)效果。

用于現(xiàn)場(chǎng)PID恢復(fù)的可逆高壓極性

可測(cè)量的參數(shù)

分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度

易于使用的便攜式設(shè)備

欲了解更多信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)

● 原型：24個(gè)電池，在高壓下正向暗I-V曲線的測(cè)量

● 新功能：高壓可雙向施加應(yīng)力和恢復(fù) 在活動(dòng)模塊中成功演示

● Fraunhofer CSP 于2015年*提交認(rèn)證

● 2018年上市

● 用戶：評(píng)估員、操作員、服務(wù)專家、安裝人員、模塊制作人

* Patent pending ?Verfahren und Anordnung zur Prüfung eines Solarmoduls auf Anf?lligkeit für Potentialinduzierte Degradation”, DE 10 2015 213 047 A1

參考文獻(xiàn)： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

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as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.

關(guān)鍵詞：電池