世界集成的拉曼成像與掃描電子顯微鏡

RISE顯微鏡是一款新型聯(lián)用顯微鏡，它將SEM和共聚焦拉曼成像結(jié)合在一起。通過RISE顯微鏡，可以將超微結(jié)構(gòu)表面特性與分子化合物信息關(guān)聯(lián)起來。

RISE顯微鏡將SEM和alpha300共聚焦拉曼成像顯微鏡的所有功能都融于一臺儀器中:

· 在拉曼和 SEM 測量之間快速、簡便切換

· 自動將樣品從一個測量位置移動另一個位置

· 集成化軟件界面，方便用戶進行測量控制

· 測量結(jié)果關(guān)聯(lián)與圖像疊加

· 獨立的SEM 和拉曼成像性能

與ZEISS電鏡聯(lián)用的 RISE顯微鏡 與TESCAN電鏡聯(lián)用的 RISE顯微鏡

RISE 顯微技術(shù)：

利用RISE顯微鏡，在整個測量程序中，可以將樣品在 SEM 真空室內(nèi)從一個測量位置自動轉(zhuǎn)移到另一個位置，從而簡化了工作流程，大大提高了儀器的易用性。

應(yīng)用實例:

倉鼠腦組織切片的拉曼-SEM疊加圖像。彩色編 砷化鎵 (GaAs) 樣品的拉曼-SEM疊加圖像。 PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM疊加圖像。

碼的拉曼圖像：綠色：腦白質(zhì)；紅色：腦灰質(zhì)； 彩色編碼的拉曼圖像：黃色：金基底；紅色： 彩色編碼的拉曼圖像：綠色：聚苯乙烯；紅色：

掃描范圍:100 x 100 µm，300 x 300 像素 = GaAs；藍色：生產(chǎn)殘留物；掃描范圍:50 x 聚甲基丙烯酸甲酯。

90,000光譜，每光譜測量時間50 ms。 50μm，300 x 300 像素 = 90,000光譜，每

光譜測量時間34 ms。

RISE 顯微鏡與地質(zhì)樣品的 EDX 同區(qū)域?qū)?yīng)分析。左：疊加的 SEM-EDX 圖像：可以區(qū)分三種不同元素組（橙色：Si、O；紫色：Si、Al、Fe、Ca；綠色：Na）。中間：同一樣品區(qū)的拉曼-SEM疊加圖像，呈現(xiàn)分子化合物的空間分布。右：相應(yīng)的拉曼光譜。紅色：綠簾石；綠色：石英；棕色：斜長石（鈉長石）；額外其他分子化合物。

產(chǎn)品特點

● 在拉曼光譜和掃描電鏡之間快速方便的轉(zhuǎn)換

● 拉曼光譜成像：每個樣品點都能獲取完整的拉曼光譜

● 2D和3D成像模式：平面（x-y方向）和深度掃描（z方向）

● 的衍射極限橫向分辨率：200-300nm

● SEM 和拉曼成像互不影響共聚焦拉曼成像

● 更高的共焦拉曼成像速度、靈敏度和分辨率

● 優(yōu)異的深度分辨率適合三維圖像生成和深度分析

● 靈敏度和分辨率的光譜系統(tǒng)

● 超快拉曼成像選項，每張光譜0.76毫秒的采集時間

● 非破壞性成像技術(shù)，無需對樣品進行染色

RISE顯微鏡適合……

作為拉曼新手，您將受益于操作簡易性和直觀的測量過程

作為一名經(jīng)驗豐富的使用者，在一臺設(shè)備上實現(xiàn)原位的電鏡-拉曼聯(lián)用圖像，獲得更多的樣品信息

適用領(lǐng)域：材料科學、納米技術(shù)、高分子科學、地球科學、生命科學、制藥業(yè)……