XU-100 X熒光光譜測厚儀
高精尖檢測技術(shù),搞定企業(yè)品質(zhì)管控!
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。 檢測各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,最小測量面積0.2mm²,凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm,是一款測量鍍層厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。
應(yīng)用行業(yè):
電鍍層分析
緊固件行業(yè)
五金行業(yè)
汽車零部件
配飾厚度分析
電子元器件
……
常見樣品:
緊固件 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
電子元器件 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
配飾首飾 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散熱片NiP/Al
……
為什么選擇XU-100?
1.下照式設(shè)計(jì)
可以快速方便地定位對焦樣品。
2.高精密微型移動滑軌
快速精準(zhǔn)定位樣品。
3. 微焦X射線裝置
最小檢測面積可達(dá)0.2mm²的樣品,可進(jìn)行各類電鍍層膜厚檢測。
高效率正比接收器即使測試0.2mm²的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
4. 變焦裝置算法
可對各種異形凹槽進(jìn)行檢測,凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm。
5.的EFP算法
多層多元素,包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測,都可以快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析。
最小檢測面積可達(dá)0.01mm²
凹槽深度范圍0-30mm
移動精度10μm
最近測距光斑擴(kuò)散度10%