- UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm
- 一秒內(nèi)獲取三維熒光全譜
- 超高熒光靈敏度,水拉曼RMS 6000:1
- 自動(dòng)校準(zhǔn)主次內(nèi)濾效應(yīng)
- 的A-TEEM TM 指紋熒光技術(shù),高保真識(shí)別分子指紋
- CCD 檢測器實(shí)現(xiàn)毫秒內(nèi)完成整個(gè)熒光光譜采集
Duetta 的兩個(gè)獨(dú)立檢測器,可同時(shí)采集熒光和透射光路的吸光度數(shù)據(jù) 實(shí)時(shí)內(nèi)濾效應(yīng)校正的熒光光譜 技術(shù)指標(biāo)