產(chǎn)品描述：
- 光學(xué)方法，非接觸、無損測量，安全*。
- 快速膜厚分析，只需幾毫秒即可獲得測量結(jié)果
- 膜厚測量范圍 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
- *的分析準(zhǔn)確度，在整個厚度測量范圍內(nèi)偏差小于0.005微米
- 可同時分析計算兩層膜厚
- 可同時支持實驗室離線分析或者在線生產(chǎn)分析
應(yīng)用領(lǐng)域：
用于主要的汽車燈以及CD生產(chǎn)商等行業(yè)進(jìn)行有機膜厚測試。
安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司 成立于上海，在蘇州、深圳、成都設(shè)有銷售及服務(wù)點。
業(yè)務(wù)涉及
儀器設(shè)備事業(yè)：科學(xué)儀器、檢測工具、實驗室設(shè)備、工業(yè)自動化；
材料事業(yè)：工業(yè)材料、實驗室耗材
實驗室及生產(chǎn)線集成事業(yè)：QA/QC實驗室整體方案、電鍍代加工、電鍍廢水中貴金屬回收再利用。
有能力為客戶提供：售前應(yīng)用評估及測試、售后技術(shù)支持、設(shè)備維護保養(yǎng)及校驗、標(biāo)準(zhǔn)樣品及零部件供應(yīng)、標(biāo)準(zhǔn)樣品再認(rèn)證（ISO17025）、備用設(shè)備租賃。
產(chǎn)品包括但不局限于：X射線熒光（XRF）、電子顯微鏡、能譜儀、白光干涉膜厚測量、磁感應(yīng)及渦流、超聲、原子吸收（AAS）、原子力顯微鏡（AFM）、實驗室模擬系統(tǒng)、三座標(biāo)、二次元、自動色差測量平臺……滿足客戶的QA/QC及R&D測試需求。
代理的品牌來自德國、英國、美國、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不斷完善的產(chǎn)品解決方案、專業(yè)的技術(shù)眼光、高效率的運營、客戶為先的理念，我們追求與客戶*穩(wěn)定的配合、致力于成為客戶的技術(shù)采購合作伙伴。
非接觸式3D輪廓儀，白光干涉膜厚儀，XRF鍍層測厚儀，表面銅厚和孔內(nèi)銅厚測量儀，手持式XRF光譜儀
TranSpec Lite 白光干涉膜厚儀 產(chǎn)品信息
