表面和界面分析充滿了挑戰(zhàn),需要一款儀器能夠為后續(xù)的研發(fā)改進提供可靠的結(jié)果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系統(tǒng)是一款高性能 X 射線光電子能譜儀,在保證數(shù)據(jù)質(zhì)量和樣品測試通量的同時,集成了其他分析技術(shù)。
與所有 Thermo Scientific XPS 系統(tǒng)一樣,Nexsa G2 系統(tǒng)也使用 Avantage 進行儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生成。無論是在專業(yè)的研究實驗室,還是在多用戶環(huán)境中工作,Avantage 靈活易用、功能齊全、操作直觀的特性,可幫助不同水平的用戶實現(xiàn)樣品分析。
為什么選擇 Nexsa G2 系統(tǒng)?
# 高效的科研級能譜儀
新型微聚焦單色化X射線源可實現(xiàn)以 5 μm 步長的 10 μm 至 400 μm 的 X 射線光斑大小連續(xù)可調(diào),從而確保將分析束斑調(diào)節(jié)至與目標(biāo)特征匹配。利用升級的X 射線源、高效的電子透鏡和優(yōu)化的檢測器,可實現(xiàn)的靈敏度和高效的數(shù)據(jù)采集。
# 絕緣體分析
Nexsa G2 系統(tǒng)上的一鍵式自動電荷補償系統(tǒng)可輕松實現(xiàn)絕緣樣品分析。的雙束中和源避免絕緣樣品發(fā)生荷電,因為使用極低能量的電子,大多數(shù)情況下將無需進行荷電校正。
# 深度剖析
Nexsa G2 系統(tǒng)配備有標(biāo)準(zhǔn)離子源或 MAGCIS(可選的單粒子和氣體團簇復(fù)合型離子源) 進行深度剖析。自動離子源優(yōu)化和氣路控制可確保的性能和實驗重現(xiàn)性。
# 多技術(shù)聯(lián)用
使用 Nexsa G2 系統(tǒng),所有技術(shù)將觸手可及,一套系統(tǒng)全面分析您的樣品。標(biāo)準(zhǔn)配置具備高性能 XPS 所需的所有功能,ISS、UPS、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)集于一身。升級選項可將系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為完整的分析工作站,有助于解決材料分析問題,提高生產(chǎn)效率。
# 特殊樣品臺可選
Nexsa G2增加了多種樣品臺可選,以滿足科研的特殊應(yīng)用需求。特殊可選樣品臺有:NX 加熱臺,用于原位的樣品加熱分析;多觸點偏壓樣品臺,可實現(xiàn)樣品在真空系統(tǒng)中的施加電壓,偏壓或循環(huán)電極后的XPS原位分析;惰性氣體轉(zhuǎn)移腔,可實現(xiàn)空氣敏感樣品的真空/惰性氣體保護轉(zhuǎn)移;MCA樣品臺,用于XPS+SEM的關(guān)聯(lián)分析,實現(xiàn)XPS技術(shù)和電子顯微技術(shù)對樣品的同一個分析區(qū)域采集數(shù)據(jù),并進行比對分析。