優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但般都很短,10~300秒就可以測(cè)完樣品中的部待測(cè)元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能進(jìn)行分析。e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。f) 制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
簡(jiǎn)介
EDX1800B是款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷(Si-PIN檢測(cè)器)檢測(cè)器,因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí),以維持高可信性分析和提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目標(biāo)。 根據(jù)不同樣品從開始測(cè)試到得到結(jié)果所需測(cè)試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成,所以完可以應(yīng)對(duì)RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。另外,近幾年在眾多企業(yè)中實(shí)施的自行檢測(cè)有害元素Cl的檢測(cè)分析,該款裝置也可以通過篩選分析簡(jiǎn)單的檢測(cè)出來。同時(shí)推薦該裝置作為中版RoHS二階段應(yīng)對(duì)手段。
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
移動(dòng)樣品平臺(tái)
電制冷Si-PIN探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
是專業(yè)生產(chǎn)X熒光光譜儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,,ROHS測(cè)量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GC-MS6800,ICP-MS2000等。