20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果(例如:低合金鋼)
定期維護(hù)的工作量(火花臺(tái)清洗)減少8倍
元素在低合金鋼中平均檢測(cè)限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測(cè)限改善5倍
儀器的占地面積減少27%
單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間
產(chǎn)品參數(shù) >>
作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的,40多年來,SPECTRO全心投入開發(fā)出的發(fā)射光譜儀。今天,斯派克公司引入CMOS探測(cè)器技術(shù),改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來。在所有同類分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,元素檢測(cè)限低限,同時(shí)她也可以提供超長的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。