日本sanko 電磁膜厚儀    紫外光譜儀SWT-NEO-F

特征

1.寬測量范圍：0 至 2.5mm

2.通過調零和標準調整可立即進行測量

規(guī)格

測量范圍    0～2.50mm

顯示方式    LCD數(shù)字、顯示保持

顯示分辨率    1μm：0-999μm  0.1μm：0-400μm  0.5μm：400-500μm  0.01mm：1.00-2.50mm

測量精度  均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2%   101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內

工作溫度   0～40℃（無凝結）

重量     約270克（含電池）

配件   標準厚板、測試調零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書

日本sanko 電磁膜厚儀    紫外光譜儀SWT-NEO-F

特征

1.寬測量范圍：0 至 2.5mm

2.通過調零和標準調整可立即進行測量

規(guī)格

測量范圍    0～2.50mm

顯示方式    LCD數(shù)字、顯示保持

顯示分辨率    1μm：0-999μm  0.1μm：0-400μm  0.5μm：400-500μm  0.01mm：1.00-2.50mm

測量精度  均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2%   101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內

工作溫度   0～40℃（無凝結）

重量     約270克（含電池）

配件   標準厚板、測試調零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書