賽默飛世爾紫外分光光度計Evolution 201 220擁有強大的軟件、的技術(shù)、以及一整套的附屬設備，能夠提供您所期望的高質(zhì)量實驗結(jié)果。具有便捷和多樣化的分析功能。
賽默飛世爾紫外分光光度計Evolution 201 220采用了賽默飛世爾科技科研技術(shù)，以其*的雙光束光路設計、*的INSIGHT用戶軟件、完備而功能強大的光譜附件，為用戶提供豐富的光譜分析功能，全面的定量分析和動力學分析解決方案，并可輕松應對挑戰(zhàn)性樣品，如散射物質(zhì)的透射性能分析，反射測量等。Evolution 200系列產(chǎn)品提供本地控制和計算機控制兩種配置，也可以把兩種控制模式結(jié)合起來，其均使用相同的INSIGHT軟件，使儀器始終都處于*的狀態(tài)，提供便捷和多樣化的分析功能。2011年7月，產(chǎn)品榮膺被譽為科技界“創(chuàng)新奧斯卡”的R&D 100大獎。
特點：
1.主頁面把測試和使用方法顯示在*個頁面，方便瀏覽和使用。
2.用CUE 軟件建立自己的分析方法，CUE是一個使用簡單、一步一步的類似流程圖的工具，可以為分析制定完整的多步驟分析流程。適應所有的QA/QC應用程序，具有豐富的光譜分析功能，能夠全面的定量分析解決方案，可自動顯示、保存和輸出結(jié)果的功能。
3.一整套的樣品池轉(zhuǎn)換器，溫度控制和監(jiān)測設備，光纖實驗系統(tǒng)，以及用來測量固體樣品反射和透射的附件，拓展分光光度計的功能，提升了儀器的價值。
4.高性能，為用戶體驗而設計。1.0nm的分辨率，雙光束（Double-Beam）配置都能提供zui準確的數(shù)據(jù)；光學匯聚技術(shù)；可屏蔽的樣品檢測器；樣品倉不受環(huán)境光線影響，測量過程中可打開，配有開啟按鈕的滑動樣品倉開啟門。
5.便捷的手控功能，采用觸摸屏的內(nèi)置計算機可用手指進行常規(guī)操作。
6.觸發(fā)信號連接幫助您與外界進行互動。
7.USB接口可外接計算機，從而通過INSIGHT軟件進行儀器控制、數(shù)據(jù)分析、存儲。
8.單色儀在保證波長準確前提下，實現(xiàn)快速掃描功能，掃描速度從<1到6,000nm/min。
9.汞燈端口可提供全波長范圍的波長準度和波長再現(xiàn)性的校準。
10.閃爍氙燈光源僅在進行測量的時候發(fā)出強烈的閃光，能夠保證持續(xù)工作3年，具有使用成本低廉，維修間隔周期長，在可見光區(qū)和紫外區(qū)都具有很高強度，不需要預熱的優(yōu)點。
11.INSIGHT軟件：簡單好用，成熟精深,具有的多功能和靈活性：掃描測量；固定波長測量；定量分析；動力學分析；
12.可本機控制、計算機控制、或者把本機控制和計算機控制結(jié)合起來。
13.精準的溫度控制。
14.系統(tǒng)性能的可靠保證，校準評價圓盤（CVC）能夠為常規(guī)的儀器測試提供可溯源的標準，能自動測試性能。
15.積分球可分析散射物質(zhì)的透射性能、反射性能。
技術(shù)參數(shù)：
Evolution 201紫外分光光度計 | Evolution 220紫外分光光度計 | |
光學系統(tǒng)設計 | 雙光束配有樣品和參比池架位置；Czerny-Turner單色儀 | 雙光束配有樣品和參比池架位置；AFBG技術(shù)；Czerny-Turner單色儀 |
光譜帶寬 | 1.0 nm | 可變：1 nm或者2 nm；AFBG微量池優(yōu)化；AFBG光纖模塊優(yōu)化；AFBG材料測試優(yōu)化 |
光源 | 閃爍式氙燈，質(zhì)保3年（一般可用5年） | |
檢測器 | 雙硅光電二極管 | |
掃描坐標模式 | 吸光度Abs，透射率T%，反射率R%， Kubelka-Munklog（1/R），log（Abs），Abs*Factor，強度Intensity | |
分辨率 | >1.6（峰-谷比；甲苯正己烷） | |
波長范圍 | 190到1100 nm | |
波長準度 | ±0.8 nm（全量程190到1100 nm）±0.5 nm（546.11 nm汞線） | |
重復性 | 0.1 nm（546.11 nm汞線， 10次測量標準偏差） | |
掃描速度 | < 1到6000 nm/min，可調(diào)節(jié) | |
數(shù)據(jù)間隔 | 10，5，2，1.0，0.5，0.2，0.1 nm | |
吸光度范圍 | > 3.5 A | |
吸光度顯示范圍 | -0.3到4.0 B1115A | |
儀器準度 | 0.5 A：± 0.004 A ，1 A：± 0.006 A ， 2 A：± 0.010 A 依照NIST/NPL，使用中等強度濾光片，在440 nm測量 | |
準度—密封溶液（EP/BP/TGA） | ± 0.010 A（60 mg/L K2Cr2O7） | |
噪聲 | 0 A： 0.00015 A ，1 A： 0.00050 A ，2 A： 0.00080 A ，260 nm，1.0 nm SBW，RMS | |
漂移（穩(wěn)定性） | < 0.0005 A/hr ，500 nm，1.0 nm SBW，1小時預熱 | |
雜散光 | KCl，198 nm： 1% T ；Nal，220 nm： 0.05% T ；NaNO2，340 nm： 0.05% T | |
基線平直度 | ± 0.0010 A ，200到800 nm，1.0 nm SBW，平滑處理 | |
鍵盤 | 膜密封 | |
本機控制顯示 | 觸摸屏LCD面板；800×480；17.8 cm（對角線）屏幕 | |
本機控制操作系統(tǒng) | 內(nèi)置微軟Windows XP | |
尺寸 | 62.2 cm長 ×48.6 cm寬 × 27.9 cm高 | |
重量 | 14.4公斤 | |
電源 | 100-240伏，50-60Hz，自動選擇zui大功率150瓦 | |
