GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度,偏置電壓,以及工作壽命(IC壽命試驗)
JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
半導體行業(yè):用于測試半導體器件的耐環(huán)境應(yīng)力能力,包括集成電路IC、晶體管、MOS管等。
連接器:評估連接器在高溫高濕環(huán)境下的性能和壽命。
線路板:對電路板進行加速老化測試,以評估其可靠性和耐久性。
磁性材料:測試磁性材料在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性。
高分子材料:對EVA、光伏組件、高分子材料等進行加速老化壽命測試。
汽車行業(yè):對汽車電子設(shè)備進行高溫高濕環(huán)境下的可靠性測試,符合AEC-Q101標準。
航空航天:模擬飛行器在高空和地面之間的溫度變化對材料和組件的影響。
建材:用于評估建筑材料在高溫高濕環(huán)境下的耐久性。
紡織皮革:測試紡織品和皮革材料在惡劣環(huán)境下的性能。
冶金:評估金屬材料在高溫高濕條件下的耐腐蝕性和耐久性。
準備工作:確保HAST試驗箱放置在干燥、通風良好、溫度適宜的實驗室環(huán)境中,避免陽光直射和高溫、高濕等影響試驗的因素。檢查試驗箱的外觀是否完好,是否有損壞或松動的部件,并確保溫度傳感器、濕度傳感器等正常工作。
樣品準備:根據(jù)試驗要求,選擇合適的試樣,并進行預(yù)處理,如清潔樣品表面、去除保護涂層等。樣品的選擇應(yīng)代表實際使用環(huán)境中的典型情況。
設(shè)置參數(shù):根據(jù)測試標準的要求,設(shè)置試驗設(shè)備的溫度和濕度控制參數(shù)。確保試驗室的溫濕度穩(wěn)定,并校準試驗設(shè)備的溫濕度傳感器。HAST試驗箱通常需要設(shè)置的溫度范圍為105℃~155℃,壓力范圍為表壓力+0.2~3.5kg/cm2,濕度范圍為65%~100%RH(可調(diào))。
放置樣品:將準備好的試樣放入試驗箱中,注意放置的位置和方式。試樣之間要保持一定的間隔,避免相互影響。
啟動試驗:確認試樣放置無誤后,關(guān)閉試驗箱的門,并啟動試驗。觀察試驗箱的溫度和濕度是否按照設(shè)定值進行變化。
監(jiān)測試驗過程:在試驗過程中,定期檢查試驗箱的工作狀態(tài)和試樣的變化情況??梢允褂脺囟扔嫛穸扔嫷裙ぞ哌M行監(jiān)測,確保試驗的穩(wěn)定性和準確性。
結(jié)束試驗:試驗結(jié)束后,先停止試驗箱的運行,再取出試樣。對試樣進行檢查和記錄,包括試樣的變化情況、損壞情況等。
清潔和維護:試驗箱使用完畢后,及時清潔試驗箱的內(nèi)部和外部。定期檢查試驗箱的維修和保養(yǎng)情況,確保試驗箱的正常運行。
數(shù)據(jù)分析:根據(jù)試驗結(jié)果編寫詳細報告,總結(jié)產(chǎn)品的表現(xiàn)和可能存在的問題。分析樣品在條件下的性能變化,以評估其可靠性和壽命。
安全注意事項:操作過程中注意安全,確保試驗箱具備必要的安全保護措施,如過熱保護、過壓保護等。試驗時應(yīng)全程檢測超溫超壓保護,第一階段儀表內(nèi)部超高溫保護,第二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水保護,高壓力保護,水箱缺水報警斷電等安全措施。