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高低溫可靠性測試

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)（深圳）有限公司
品牌
型號
所在地成都市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/11/15 10:03:19
訪問次數(shù)56

產(chǎn)品標(biāo)簽:

高低溫試驗(yàn)高低溫存儲(chǔ)溫濕度循環(huán)測試環(huán)境可靠性測試

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公司介紹主營產(chǎn)品

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)有限公司（富士康華南檢測中心），成立于1996年，主要從事3C產(chǎn)品類測試與驗(yàn)證、汽車零部件檢測，環(huán)境可靠性測試,材料檢測、尺寸測量與驗(yàn)證、有毒有害物質(zhì)檢測及計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)，并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。
現(xiàn)設(shè)立有十二大功能實(shí)驗(yàn)室，主要檢測設(shè)備共4300余臺(tái)(套) ，各類專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，專業(yè)檢測技術(shù)及管理人員1600余名，形成了專業(yè)、綜合性檢測/校準(zhǔn)中心，是專業(yè)、客觀、公正的第三方專業(yè)檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)之一。
2003年得中國合格評定國家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS）并按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，2018年取得CMA資質(zhì)。

已完善的實(shí)驗(yàn)室:
環(huán)境可靠性(氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、包裝運(yùn)輸、HALT、噪音)；

金屬材料檢測（清潔度檢測、成分、金相、力學(xué)性能、端口、鍍層及失效分析）；

塑料檢測（成分、熱學(xué)性能、力學(xué)性能、物理性能及失效分析）；
電子產(chǎn)品管控物質(zhì)（RoHS、鹵素等）；
尺寸檢測(尺寸測量、3D掃描、逆向工程)；
校準(zhǔn)(長度、質(zhì)量、熱學(xué)、力學(xué)、電量)；
SMT實(shí)驗(yàn)室（紅墨水試驗(yàn)、切片試驗(yàn)、超聲波掃描、離子清潔度等）；
移動(dòng)產(chǎn)品(手機(jī)、PAD等)壽命驗(yàn)證等

展開顯示更多內(nèi)容

清潔度檢測，環(huán)境可靠性測試，金屬材料檢測，尺寸測量，塑料成分分析，成都檢測中心，第三方檢測，汽車零部件檢測，電子電氣檢測

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	國產(chǎn)

高低溫環(huán)境可靠性測試可分為高溫測試和低溫測試，在高溫測試中，產(chǎn)品將被暴露在高溫環(huán)境中，以模擬實(shí)際使用中可能遇到的高溫情況。同樣，在低溫測試中，產(chǎn)品將被暴露在低溫環(huán)境中。這些測試可以通過專業(yè)的測試設(shè)備和儀器進(jìn)行，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

高低溫可靠性測試產(chǎn)品信息

高低溫可靠性測試是產(chǎn)品開發(fā)過程中重要的一環(huán)。在現(xiàn)實(shí)世界中，產(chǎn)品往往會(huì)面臨各種溫度條件，如高溫環(huán)境下的電子設(shè)備、低溫環(huán)境下的汽車零部件等。通過進(jìn)行高低溫可靠性測試，企業(yè)可以評估產(chǎn)品在這些條件下的性能和可靠性，從而提前發(fā)現(xiàn)潛在問題并采取相應(yīng)措施。

高溫/低溫的影響：

高溫對產(chǎn)品有很多影響，如老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變形等，通常周圍環(huán)境每上升10℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半，產(chǎn)品壽命遵循“10℃規(guī)則”，因而高溫試驗(yàn)作為常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。

低溫對產(chǎn)品有很多影響，如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低及物理性收縮等，低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。

參考標(biāo)準(zhǔn)：

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn) IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫 GB/T2423.1-2008

裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4 部分：低溫試驗(yàn) GJB 150.4A-2009

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn) IEC 60068-2-2:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫 GB/T2423.2-2008

裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3 部分：高溫試驗(yàn) GJB 150.3A-2009

在競爭激烈的市場環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)贏得客戶信任的關(guān)鍵因素之一。產(chǎn)品通過高低溫環(huán)境可靠性測試等測試，企業(yè)可以提供更可靠和穩(wěn)定的產(chǎn)品，從而增強(qiáng)其在市場上的競爭力。

關(guān)鍵詞：電子設(shè)備