節(jié)能低溫試驗箱設(shè)備的適用范圍和測試標(biāo)準(zhǔn)如下：
適用范圍：
電工電子產(chǎn)品：適用于非散熱的電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）的低溫試驗。
電子零部件行業(yè)：在電子零部件行業(yè)中，用于測試集成電路、電阻、電容和半導(dǎo)體器件等在各種環(huán)境條件下的性能。
產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制：用于研發(fā)階段的型式試驗、零部件篩選試驗，以及質(zhì)量控制過程中的產(chǎn)品檢測。
測試標(biāo)準(zhǔn)：
國家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗A: 低溫》。
國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1:2007，這是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗中關(guān)于低溫試驗的國際標(biāo)準(zhǔn)。
溫度范圍：根據(jù)GB2423標(biāo)準(zhǔn)，不同地區(qū)和應(yīng)用場合下，低溫測試的范圍可設(shè)定為：-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。
試驗條件：溫度：-55℃、-40℃、-25℃、-10℃ 或制造商與用戶商定的其他溫度點。試驗時間：制造商與用戶商定，但不應(yīng)少于產(chǎn)品在該溫度下達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)所需的時間。
試驗步驟：包括預(yù)處理、初始檢測、低溫試驗、恢復(fù)和最終檢測等步驟。
試驗結(jié)果評定：根據(jù)產(chǎn)品的性能指標(biāo)和試驗要求，對低溫試驗結(jié)果進行評定。如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能變化在允許范圍內(nèi)，則認(rèn)為產(chǎn)品通過了低溫試驗；如果產(chǎn)品在低溫環(huán)境下出現(xiàn)性能故障或損壞，則認(rèn)為產(chǎn)品未通過低溫試驗。
試樣放置：試樣與試樣、試樣與冷凍箱內(nèi)膽之間應(yīng)留有一定間隙，以保證冷氣流動，降溫均勻。
易失水分物品：對于試驗溫度較高物體和易失水分的物體，應(yīng)使用密封較好的食品袋或保鮮紙包好放入，以防水分跑出，在工作室內(nèi)結(jié)霜，影響制冷。
易燃易爆物品：嚴(yán)禁在冷凍箱內(nèi)存放揮發(fā)性、燃燒性的氣體、液體，如汽油、酒精等物品。
試樣數(shù)量：一次放入的試樣不能過多，否則會使壓縮機長時間不停機，而且箱內(nèi)溫度下降緩慢，反而達不到要求。
工作完畢后處理：工作完畢后，切斷電源，取出已冷凍樣品，打開冷凍箱門讓其自然升溫，化霜層融化，將水放出用軟布吸干擦凈。
設(shè)備使用范圍：本設(shè)備僅適合高溫+150℃，低溫-40℃范圍內(nèi)的產(chǎn)品試驗。
禁止危險物質(zhì)試驗：禁止易爆、易燃及高腐蝕物質(zhì)的試驗。
箱門開啟：本機工作于0℃以下時，應(yīng)避免打開箱門，否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)冰，降低本機使用效率。
非必要不開門：試驗中，除非絕對必要切勿打開箱蓋，否則可能會引起人身傷害、系統(tǒng)誤動作，可能會導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解，觸發(fā)超溫保護。
電源及接地：試驗箱在安裝時箱體外殼必須接地，如果試驗箱沒有接地，一旦漏電則會非常危險。
電源線徑：電源進線線徑必須等于大于要求線徑，否則設(shè)備在運行過程中負(fù)載嚴(yán)重，很容易引起負(fù)載燒壞。
超溫保護器檢查：需要定期檢查電路斷路器和超溫保護器，以提供本機測試品以及操作者的安全保護。
照明燈使用：照明燈除必要時打開外，其余時間應(yīng)關(guān)閉。
工作室干燥：在做低溫前，應(yīng)將工作室擦干。
試樣均勻放置：所有試樣應(yīng)均勻放置，試驗的放置應(yīng)保證工作室有效空間內(nèi)。
通訊接口連接：在插、拔試驗箱與計算機的通訊接口連接線時，必須先關(guān)閉計算機電源，決不允許帶電插拔。
電源關(guān)閉：試驗工作結(jié)束，不用試驗箱時，務(wù)必關(guān)閉總電源開關(guān)。
準(zhǔn)備階段：
確保測試樣品處于斷電狀態(tài)。
將測試設(shè)備預(yù)熱至適當(dāng)?shù)某跏紶顟B(tài)，以便進行低溫測試。
低溫測試：
將樣品放入低溫箱，設(shè)定溫度至-50℃，并保持4小時。請務(wù)必在樣品斷電的狀態(tài)下進行，以避免因芯片自發(fā)熱影響測試結(jié)果。
低溫保持期間，定期監(jiān)測溫度，確保溫度均勻分布。
性能測試：
經(jīng)過低溫處理后，重新通電，并進行性能測試。測試主要包括電氣特性、功能性以及其他相關(guān)參數(shù)，與常溫下的性能進行對比。
老化測試：
在性能測試完成后，進行老化測試，觀察是否存在數(shù)據(jù)對比錯誤或其他異?，F(xiàn)象。
高溫測試：
將樣品升溫至+90℃，保持4小時。升溫過程中，樣品應(yīng)不斷電，以確保內(nèi)部溫度維持在高溫狀態(tài)。
完成高溫保持后，重復(fù)性能和老化測試步驟，確保產(chǎn)品在高溫條件下的可靠性。
循環(huán)測試：
高低溫測試通常需要重復(fù)10次，以確保測試結(jié)果的可靠性和一致性。
測試結(jié)果判定：
如果測試過程中任意一次未能正常工作，視為測試失敗，需記錄異常情況并進行分析。
測試設(shè)備及參數(shù)設(shè)置：
高低溫測試一般在高低溫試驗箱內(nèi)進行，確保箱內(nèi)溫度均勻且穩(wěn)定。根據(jù)GB2423標(biāo)準(zhǔn)，不同地區(qū)和應(yīng)用場合下，低溫測試的范圍可設(shè)定為：-65℃、-55℃、-45℃、-40℃、-30℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、+5℃。高溫測試的范圍可設(shè)定為：+200℃、+175℃、+155℃、+125℃、+100℃、+85℃、+70℃、+65℃、+60℃、+55℃、+50℃、+45℃、+40℃、+35℃、+30℃。
驗收流程：
測試在空載條件下進行，進行降溫速率試驗時，環(huán)境溫度應(yīng)當(dāng)不高于25℃，冷動力溫度應(yīng)不高于30℃。
在試驗箱溫度可調(diào)范圍內(nèi)，選取最高標(biāo)稱溫度和低標(biāo)稱溫度，使試驗箱按先低溫后高溫的程序運行，在工作空間中心點的溫度達到測試溫度并穩(wěn)定2小時，在30分鐘內(nèi)第1分鐘測試所有測試點的溫度1次，共測30次。
對測得的溫度數(shù)據(jù)進行修正，剔除可疑數(shù)據(jù)，計算每點30次測得值的平均溫度，計算溫度梯度、溫度波動度、溫度偏差。
高低溫試驗箱控制儀表的設(shè)定值與中心測試值之差應(yīng)滿足容許偏差要求。
