電子控制單元恒溫恒濕試驗(yàn)箱型號規(guī)格：
型號 | DR-H201-100 | DR-H201-150 | DR-H201-225 | DR-H201-408 | DR-H201-800 | DR-H201-1000 |
內(nèi)箱尺寸 (W×H×D)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 600x750x500 | 600x850x800 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
溫度范圍 | G：-20℃～+100℃（+150℃）； Z：-40℃～+100℃（+150℃）； D：-70℃～+100℃（+150℃）； | |||||
濕度范圍 | 20﹪～ 98﹪ R.H. / 30﹪～ 98﹪ R.H. (10﹪ -98﹪ R.H/5﹪～ 98﹪ R.H 為特殊選用條件） | |||||
溫度精度 | ± 0.1 ℃ | |||||
溫度均勻度 | ± 2 ℃ | |||||
升溫時間 | 3℃/min（-20℃～+100℃約需35min；-40℃～+100℃約需45min；-70℃～+100℃約需60min） | |||||
降溫時間 | 1℃/min（+20℃～-20℃約需45min；+20℃～-40℃約需60min；+20℃～-70℃約需90min） | |||||
內(nèi)箱材質(zhì) | SUS 304# 鏡面不銹鋼板 | |||||
外箱材質(zhì) | 冷軋鋼板烤漆或不銹鋼板 | |||||
保溫材質(zhì) | 硬質(zhì)Polyurethane發(fā)泡膠＋玻璃棉（當(dāng)高溫為150℃時采用玻璃棉） | |||||
冷凍系統(tǒng) | “泰康"牌全封閉式壓縮機(jī) | |||||
配件 | 觀察窗，上下間距可調(diào)隔層2片，測試孔Φ50mm 1個，箱內(nèi)照明燈。 | |||||
重量約(kg） | 200 | 300 | 400 | 450 | 550 | 600 |
源 | AC220V 50Hz | AC380V 50Hz | ||||
上述是關(guān)于恒溫恒濕試驗(yàn)箱的基本資料，如您想了解更多關(guān)于報(bào)價(jià)、型號、參數(shù)等信息，歡迎垂詢或下方留言。 | ||||||
選擇電子控制單元恒溫恒濕試驗(yàn)箱時，需要注意以下幾個關(guān)鍵事項(xiàng)：
確定試驗(yàn)箱尺寸：根據(jù)試樣產(chǎn)品的大小及放置數(shù)量來確認(rèn)內(nèi)箱尺寸。同時考慮外箱尺寸，確保設(shè)備能夠順利運(yùn)輸?shù)绞褂脠龅?/span>。
溫濕度范圍：根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或參照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定溫濕度范圍，并適當(dāng)放寬以保證設(shè)備未來的拓展性。
設(shè)備配件：主要包括箱體、電氣控制、制冷裝置、加熱設(shè)備、加濕設(shè)備等。控制器、壓縮機(jī)和箱體材質(zhì)是非常重要的配件，直接影響試驗(yàn)箱的質(zhì)量。
風(fēng)冷或水冷：小型設(shè)備一般采用風(fēng)冷，而大型設(shè)備可能需要水冷。
電源選擇：恒溫恒濕試驗(yàn)箱通常需要三相以上的電源接口，大型設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)為380V電源接口。
安全保護(hù)：試驗(yàn)箱應(yīng)具備多種安全保護(hù)措施，如超溫、超濕、過載保護(hù)，以及斷電記憶、瞬間斷電恢復(fù)等功能。
數(shù)據(jù)采集與控制軟件：數(shù)據(jù)采集和控制軟件可以實(shí)時記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)，方便地控制試驗(yàn)箱的溫濕度和運(yùn)行狀態(tài)，用戶可根據(jù)自己的需求進(jìn)行選擇。
品牌選擇：市場上有多個品牌，選擇時應(yīng)考慮品牌的影響力和技術(shù)實(shí)力。
價(jià)格比較：價(jià)格因品牌、性能、配置等因素而異。選擇時應(yīng)考慮性價(jià)比，使用年限較長的建議就近選擇服務(wù)點(diǎn)多的品牌。
安裝環(huán)境：安裝場所應(yīng)常年溫度為15~35℃，相對濕度大于85%，無直射陽光，通風(fēng)良好，遠(yuǎn)離可燃物、爆炸物及高溫發(fā)熱源。
維護(hù)保養(yǎng)：設(shè)備內(nèi)部零件有一定的壽命期限，為持續(xù)平安地使用本儀表，請定期進(jìn)行保養(yǎng)和維護(hù)。
操作注意事項(xiàng)：工作中盡量不要打開試驗(yàn)箱門，以免造成操作人員受傷或影響制冷效果。
電子行業(yè)：測試電子元器件在低溫環(huán)境下的工作性能和耐久性。
航空航天：確保航空器和航天器的零部件和系統(tǒng)在極低溫環(huán)境下的可靠性和安全性。
汽車工業(yè)：測試汽車部件在低溫環(huán)境中的正常運(yùn)行。
材料科學(xué)：研究材料在低溫下的物理和化學(xué)特性。
醫(yī)藥行業(yè)：測試藥品和生物制品在低溫條件下的穩(wěn)定性和有效性。
溫度變化對熱膨脹系數(shù)的影響：低溫試驗(yàn)箱通過模擬不同溫度條件，可以測試材料在不同溫度下的熱膨脹系數(shù)。熱膨脹系數(shù)是描述材料在溫度變化時體積或長度變化的物理量，低溫試驗(yàn)箱提供了必要的溫度環(huán)境，以研究材料在低溫條件下的熱膨脹行為。
溫度循環(huán)對材料性能的影響：周期性的溫度變化，如在低溫試驗(yàn)箱中進(jìn)行的溫度循環(huán)測試，會對樣品的力學(xué)性能（包括熱膨脹系數(shù)）產(chǎn)生影響。這種溫度變化可能導(dǎo)致材料內(nèi)部應(yīng)力的變化，從而影響其熱膨脹特性。
低溫對材料變形的影響：在低溫條件下，材料的變形非常小，如果設(shè)備的精度不夠高，測量熱膨脹系數(shù)將變得非常困難。因此，低溫試驗(yàn)箱的精度對于準(zhǔn)確測量熱膨脹系數(shù)至關(guān)重要。
溫度范圍的選擇：低溫試驗(yàn)箱的溫度范圍選擇對測試結(jié)果有顯著影響。溫度范圍越大，加在試件上的熱應(yīng)力和熱疲勞的相互作用越大，同時也可能誘發(fā)設(shè)計(jì)過程中一般看不到的失效機(jī)制。對于某些材料，當(dāng)溫度達(dá)到一定值時，會因?yàn)椴煌臒崤蛎浵禂?shù)而在不同溫度條件下表現(xiàn)出不同的性能。
熱膨脹系數(shù)的測量：低溫試驗(yàn)箱可以用于測量材料在低溫環(huán)境下的熱膨脹系數(shù)，這對于材料的設(shè)計(jì)和工程應(yīng)用具有指導(dǎo)意義。通過在低溫試驗(yàn)箱中進(jìn)行測試，可以幫助工程師選擇合適的材料來設(shè)計(jì)產(chǎn)品。
電源配置：
需要根據(jù)恒溫恒濕試驗(yàn)箱的功率需求配置合適的電源線徑。例如，對于功率為2KW的設(shè)備，適用的電源線徑為2.0~2.5mm2；對于功率為5.5~6.0KW的設(shè)備，適用的電源線徑為22~25mm2。
電源穩(wěn)定性：
為避免產(chǎn)生壓降、影響機(jī)器性能或引起故障，不應(yīng)多部機(jī)器同時使用同一外電源。
安裝環(huán)境：
設(shè)備應(yīng)安裝在常年溫度為15~35℃，相對濕度大于85%的場所。
安裝場所的環(huán)境溫度不應(yīng)急劇變化，應(yīng)避免直射陽光，并確保通風(fēng)良好。
設(shè)備周圍應(yīng)留有足夠的空間，以便于散熱和維護(hù)保養(yǎng)，與相鄰墻壁或器物之間的距離應(yīng)為300mm。
水平安裝：
設(shè)備應(yīng)安裝在水平面上，使用水平儀確認(rèn)地面水平。
遠(yuǎn)離危險(xiǎn)源：
設(shè)備應(yīng)遠(yuǎn)離可燃物、爆炸物及高溫發(fā)熱源。
供電條件：
為避免觸電或誤動作，安裝和接線結(jié)束前不要接通電源。
應(yīng)提供額定電壓范圍內(nèi)的電源，單相兩線+保護(hù)地線；電壓范圍：AC（220±10）V；頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz。
安全保護(hù)：
不允許拆除電箱、電箱門、機(jī)體側(cè)板和安全保護(hù)裝置進(jìn)行工作，以免機(jī)器處于危險(xiǎn)運(yùn)作狀態(tài)。
控制面板操作：
控制面板上的總電源開關(guān)應(yīng)少頻繁操作，停機(jī)時只需關(guān)閉溫度開關(guān)和用戶電源開關(guān)即可。
供水和排水確認(rèn)：
確認(rèn)水箱內(nèi)水量是否足夠，水箱蓋子是否蓋妥，排水管是否接妥。
濕球測試布：
每月清洗一次測試布，每三個月更換新的測試布，并確保放置位置正確、清潔且潤濕。
以下是一些常見的電子電器產(chǎn)品性能穩(wěn)定性測試標(biāo)準(zhǔn)：
環(huán)境適應(yīng)性測試標(biāo)準(zhǔn)
高溫測試：GB/T 2423.2-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) B：高溫。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)方法，如確定試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)持續(xù)時間等，以檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能變化。例如，一般電子電器產(chǎn)品可能會在 40℃至 85℃的溫度條件下進(jìn)行數(shù)小時甚至數(shù)天的測試，以模擬其在炎熱環(huán)境中的使用情況13.
IPC-9701A-2012：印刷電路板組裝件的性能測試方法。其中包括了印刷電路板組裝件在高溫條件下的性能測試要求，如電氣性能、機(jī)械性能等方面的變化。這對于確保電子產(chǎn)品中印刷電路板在高溫環(huán)境下的可靠性至關(guān)重要。
低溫測試：GB/T 2423.1-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 1 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) A：低溫。此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫試驗(yàn)的具體方法和條件，像試驗(yàn)溫度的取值范圍、試驗(yàn)時間等，幫助評估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的工作能力和性能穩(wěn)定性。比如一些戶外電子設(shè)備可能需要在 - 20℃至 - 40℃的低溫環(huán)境中進(jìn)行測試，以驗(yàn)證其能否正常啟動和運(yùn)行13.
MIL-STD-810G：美國jun用標(biāo)準(zhǔn)中的環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法。其中的低溫試驗(yàn)部分被廣泛應(yīng)用于軍事及相關(guān)高可靠性要求的電子電器產(chǎn)品測試，其低溫條件更為苛刻，可低至 - 55℃甚至更低，以確保產(chǎn)品在惡劣低溫環(huán)境下的性能。
濕熱測試：GB/T 2423.3-2016：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)明確了恒定濕熱試驗(yàn)的條件和流程，如規(guī)定了不同等級的濕度和溫度組合，以及試驗(yàn)的持續(xù)時間，用于檢驗(yàn)產(chǎn)品在高濕度和溫度環(huán)境下的防潮、絕緣等性能變化。例如，對于一些在潮濕環(huán)境中使用的電子電器產(chǎn)品，如浴室中的電器，會進(jìn)行 40℃、93% RH 的濕熱試驗(yàn)13.
IEC 60068-2-78：環(huán)境試驗(yàn)第 2-78 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Cab：濕熱，穩(wěn)態(tài)。這是國際電工委員會制定的標(biāo)準(zhǔn)，與 GB/T 2423.3-2016 類似，為電子電器產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的性能測試提供了國際通用的方法和準(zhǔn)則。
機(jī)械性能測試標(biāo)準(zhǔn)
振動測試：GB/T 2423.10-2019：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fc：振動（正弦）。此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了正弦振動試驗(yàn)的方法，包括振動頻率范圍、振動幅值、試驗(yàn)持續(xù)時間等參數(shù)的確定，以評估產(chǎn)品在振動環(huán)境下的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和性能穩(wěn)定性。如一些車載電子設(shè)備需要按照該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行振動測試，以模擬車輛行駛過程中的振動情況2.
MIL-STD-810G：同樣包含了振動試驗(yàn)的詳細(xì)要求，其振動試驗(yàn)條件更為嚴(yán)格和多樣化，可根據(jù)不同的產(chǎn)品應(yīng)用場景和要求，選擇不同的振動頻率、幅值和持續(xù)時間等參數(shù)，確保產(chǎn)品在復(fù)雜振動環(huán)境下的可靠性，常用于軍事、航空航天等對可靠性要求高的電子電器產(chǎn)品測試。
沖擊測試：GB/T 2423.5-2019：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則：沖擊。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了沖擊試驗(yàn)的方法和沖擊脈沖的波形、峰值加速度、持續(xù)時間等參數(shù)，用于檢驗(yàn)產(chǎn)品在遭受沖擊時的抗損壞能力和性能變化。例如，電子電器產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用過程中可能會受到碰撞、跌落等沖擊，通過該測試可確保產(chǎn)品在這些情況下仍能正常工作4.
IEC 60068-2-27：環(huán)境試驗(yàn)第 2-27 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則：沖擊。作為國際標(biāo)準(zhǔn)，為電子電器產(chǎn)品的沖擊試驗(yàn)提供了統(tǒng)一的規(guī)范和要求，確保了不同地區(qū)和企業(yè)生產(chǎn)的產(chǎn)品在沖擊性能方面的可比性。
電磁兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)
輻射發(fā)射測試：GB 4824-2019：工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備射頻騷擾特性限值和測量方法。此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備在不同頻段的輻射發(fā)射限值和測量方法，以限制電子電器產(chǎn)品對周圍電磁環(huán)境的干擾。例如，一些電子醫(yī)療設(shè)備、工業(yè)控制設(shè)備等需要按照該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行輻射發(fā)射測試，確保其在正常工作時不會對其他電子設(shè)備產(chǎn)生干擾3.
CISPR 11：國際無線電干擾特別委員會制定的關(guān)于工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療射頻設(shè)備電磁騷擾特性的限值和測量方法的標(biāo)準(zhǔn)，與 GB 4824-2019 類似，是國際上廣泛認(rèn)可的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)之一，對于保障電子電器產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)的電磁兼容性具有重要意義。
抗擾度測試：GB/T 17626：電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)。其中包含了多種抗擾度試驗(yàn)項(xiàng)目，如靜電放電抗擾度試驗(yàn)、射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)等，規(guī)定了試驗(yàn)的方法、試驗(yàn)等級和性能判據(jù)，用于評估電子電器產(chǎn)品在受到各種電磁干擾時的性能穩(wěn)定性和抗干擾能力23.
IEC 61000：國際電工委員會制定的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)系列，與 GB/T 17626 相對應(yīng)，為電子電器產(chǎn)品的抗擾度測試提供了全面、系統(tǒng)的國際標(biāo)準(zhǔn)，確保產(chǎn)品在復(fù)雜的電磁環(huán)境中能夠正常工作，不出現(xiàn)誤動作、性能下降等問題3.
電氣安全性能測試標(biāo)準(zhǔn)
