的詳細(xì)資料:雷達(dá)物位計(jì)適用于各種過程條件復(fù)雜的容器、儲罐、倉料等物位測量,適用于對液體、漿料、顆粒以及粉塵的物位進(jìn)行接觸式連續(xù)測量,特別是應(yīng)用在有粉塵、以及有揮發(fā)性物質(zhì)存在的復(fù)雜環(huán)境下,且不受被測介質(zhì)物理特性變化的影響。
產(chǎn)品測量原理:
雷達(dá)物位計(jì)天線發(fā)射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質(zhì)表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很?。{秒量級)很難確認(rèn)。UPR系列雷達(dá)物位計(jì)采用一種特殊的相關(guān)解調(diào)技術(shù),可以準(zhǔn)確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔,從而進(jìn)一步計(jì)算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
產(chǎn)品特點(diǎn):
由于采用了*的微處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術(shù),雷達(dá)物位計(jì)可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
“虛假回波學(xué)習(xí)”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下,可正確地確認(rèn)真實(shí)回波,獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
多種過程連接方式及天線型式,使得UPR系列雷達(dá)物位計(jì)適于各種復(fù)雜工況。如:高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。
采用脈沖工作方式,雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi),對人體及環(huán)境均無傷害。
的詳細(xì)資料:雷達(dá)物位計(jì)適用于各種過程條件復(fù)雜的容器、儲罐、倉料等物位測量,適用于對液體、漿料、顆粒以及粉塵的物位進(jìn)行接觸式連續(xù)測量,特別是應(yīng)用在有粉塵、以及有揮發(fā)性物質(zhì)存在的復(fù)雜環(huán)境下,且不受被測介質(zhì)物理特性變化的影響。
產(chǎn)品測量原理:
雷達(dá)物位計(jì)天線發(fā)射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質(zhì)表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很?。{秒量級)很難確認(rèn)。UPR系列雷達(dá)物位計(jì)采用一種特殊的相關(guān)解調(diào)技術(shù),可以準(zhǔn)確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔,從而進(jìn)一步計(jì)算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
產(chǎn)品特點(diǎn):
由于采用了*的微處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術(shù),雷達(dá)物位計(jì)可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
“虛假回波學(xué)習(xí)”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下,可正確地確認(rèn)真實(shí)回波,獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
多種過程連接方式及天線型式,使得UPR系列雷達(dá)物位計(jì)適于各種復(fù)雜工況。如:高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。
采用脈沖工作方式,雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi),對人體及環(huán)境均無傷害。
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