葉面積掃描儀YMJ-C對于不規(guī)則平面面積測量

　　葉面積掃描儀圖像測量技術具有檢測時的非接觸性、高精度、在線動態(tài)檢測、測量速度快及檢測智能化的特點，已成為現(xiàn)代測控技術的重要發(fā)展方向。

　　對于不規(guī)則平面面積的葉面積掃描儀測量方法，國內外的研究人員曾做了大量的研究工作。例如：在哈爾濱研制的激光CCD零件自動識別檢測系統(tǒng)；英國研制的AM-100葉面積測量儀；德國研制的VIDAS型全自動圖像分析儀等。這些檢測設備的應用主要集中于線陣CCD，線陣CCD圖像傳感器與光學鏡頭配合可用來檢測大型的目標物尺寸。但設備比較復雜，需要相當精密的驅動傳送控制，適應性不夠強。

　　利用面陣葉面積掃描儀可以在約40ms內獲得不規(guī)則物體的二維信息，并且不再需要掃描控制電路、驅動傳送機構等，使得設備相對簡單，測量速度得到提高。并可以采用多個面陣葉面積掃描儀協(xié)同測量幾何尺寸大的物體。特殊應用玻璃在其工作環(huán)境中（低溫）需具有良好的透過率，但由于工作環(huán)境的緣故，易結霜或表面附著水氣，嚴重影響其透過率。

儀器名稱：葉面積掃描儀

儀器型號：YMJ-C

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