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電子薄膜應(yīng)力分布測試儀

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產(chǎn)品型號HD-65

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更新時間：2022-07-12 14:53:44瀏覽次數(shù)：608次

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北京杰瑞恒達科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等領(lǐng)域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、基片曲率

半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出全場面型分布結(jié)果, 適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子生產(chǎn)工藝研究。

儀器基于干涉計量的全場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應(yīng)力

詳細介紹

產(chǎn)品名稱:電子薄膜應(yīng)力分布測試儀
規(guī)格型號:HD-65

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等領(lǐng)域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、基片曲率

半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出全場面型分布結(jié)果, 適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子生產(chǎn)工藝研究。

儀器基于干涉計量的全場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應(yīng)力集中位置, 及時淘汰早期失效產(chǎn)品。

產(chǎn)品特點

*的錯位相移技術(shù)

計算機自動條紋處理

測試過程全自動

*的曲面補償測試原理

主要技術(shù)指標

zui大樣品尺寸	≤100mm (4英寸)
曲率范圍	\|R\|≥5米
測試精度	5%
單片測量時間	3分鐘/片
結(jié)果類型	面形、曲率半徑、應(yīng)力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格
圖形顯示功能	三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示
電源	AC 220V±10%, 50Hz±5%
zui大功耗	100W
外型尺寸(L×W×H)	285mm×680mm×450mm
重量	36kg