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江蘇天瑞儀器股份有限公司
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更新時間：2024-07-17 08:01:08瀏覽次數(shù)：70次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段
鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品際化，我出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。鍍層測厚儀采用磁性測厚方法，可無損傷檢測磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。廣泛地應用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)的儀器。
鍍層測厚儀的工作原理： 鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等(在有關家和際標準中稱為覆層(coating))。
鍍層測厚儀的優(yōu)點介紹：
1. 測量速度快2. 精度高精度，可達到1-2%3. 穩(wěn)定性高4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示部是中文測量方法5、覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。6、X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
Thick 800 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、性能優(yōu)勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，降低檢出限，提高測試精度
自動智能控制方式，鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
3、技術指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩(wěn)定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
是大的鍍層測厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價比高，在行業(yè)內(nèi)銷量*，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，氣相色譜質(zhì)譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，手持式，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關技術服務，是內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。
鍍層測厚儀展廳
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