高加速試驗(yàn)一般分為高加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn)，高加速壽命試驗(yàn)（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗(yàn)）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設(shè)計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗(yàn)中需要對產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗(yàn)產(chǎn)品通過HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗(yàn)。

廣電計量擁有多臺HALT試驗(yàn)箱，均為進(jìn)口Qualmark品牌，可開展的Halt/Hass試驗(yàn)，包括：低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、振動步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、快速熱循環(huán)試驗(yàn)和綜合應(yīng)力試驗(yàn)，在這些試驗(yàn)過程中，往往伴隨著工作應(yīng)力如產(chǎn)品開/關(guān)機(jī)，電壓位偏，頻率拉偏等，為您提供高加速試驗(yàn)。

可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的模塊、通訊終端、部件以及整機(jī)等開展Halt/Hass試驗(yàn)。

GB/T 29309；

DKBA1141《通信產(chǎn)品HALT試驗(yàn)規(guī)范》。